[发明专利]光斩波器在延迟发光测量系统中的使用方法

摘要

一种将斩光器应用于光致发光测量的方法，可以用于延迟发光的测量，测量中有两条光路：光路一是激发光照射样品的光路；光路二是探测器探测样品发光的光路；该方法利用反光镜或者棱镜将其中一条或者两条光路反射或折射，使两条光路都通过同一个斩光器。这样就实现了同一个斩光器在测量中同时对激发光和被测样品的发光进行斩光，因而可以探测样品的延迟发光和激发态寿命。该方法可以用于光谱仪和荧光成像装置，并可以搭配任意的稳态光源使用，且无需再配备脉冲发生器、延迟发生器和快门附件等，简化了仪器装置并降低了成本。该方法也可以搭配大功率的近红外激光器，用于上转化材料或近红外发射材料的时间分辨的成像。

主权项

一种将斩光器应用于光致发光测量的方法，可以用于延迟发光的测量，其特征在于：所用的斩光器采用电机调制，含有一个斩光盘，斩光盘上分布有通光孔；测量中有两条光路：光路一是激发光照射样品的光路，光路二是探测器探测样品发光的光路；利用反光镜或者棱镜将其中一条或者两条光路反射或折射，使两条光路都通过这个斩光器的斩光盘，但是经过斩光盘上的不同位置；这样就实现了同一个斩光器在测量中同时对激发光和被测样品的发光进行斩光，由于两条光路经过斩光盘的位置不同，因而两次斩光存在时间差，因而该测量系统可以探测样品的延迟发光和激发态寿命。