[发明专利]一种基于互相关计算的白光干涉显微轮廓复原方法有效

专利信息
申请号: 201610403134.7 申请日: 2016-06-08
公开(公告)号: CN105865371B 公开(公告)日: 2018-06-12
发明(设计)人: 马骏;高志山;朱日宏;李晓强;王帅;王若言;魏聪 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B9/02
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 薛云燕
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种基于互相关计算的白光干涉显微轮廓复原方法,包括以下步骤:读取一组白光干涉条纹图像及系统参数,所述系统参数包括中心波长、光谱宽度和扫描步长;对于待测样品表面上任一像素点,取该像素点在该组白光干涉图像中的灰度值变化序列记为待测信号,然后根据系统参数及白光干涉原理生成参考信号;确定待测信号和参考信号的相关函数;对所得相关函数进行峰值检测,得到待测信号和参考信号之间的延迟量,延迟量与扫描步长相乘得到待测信号和参考信号之间的相对高度,进而确定每一个像素点的相对高度,复原得到待测样品表面的微观轮廓。本发明具有原理简单、检测精度高、抗噪声能力强等特点。
搜索关键词: 白光干涉 待测信号 系统参数 像素点 复原 互相关计算 待测样品 扫描步长 相关函数 延迟量 显微 读取 相乘 灰度值变化 抗噪声能力 峰值检测 条纹图像 微观轮廓 中心波长 光谱 图像 检测
【主权项】:
一种基于互相关计算的白光干涉显微轮廓复原方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,读取一组白光干涉条纹图像及系统参数,所述系统参数包括中心波长、光谱宽度和扫描步长;步骤2,对于待测样品表面上任一像素点,取该像素点在该组白光干涉图像中的灰度值变化序列记为待测信号x1(t),然后根据系统参数及白光干涉原理生成参考信号x2(t),t为该组白光干涉图像的序列标号;步骤3,确定待测信号x1(t)和参考信号x2(t)的相关函数;步骤4,对步骤3所得相关函数进行峰值检测,得到待测信号x1(t)和参考信号x2(t)之间的延迟量τ,延迟量τ与扫描步长相乘得到待测信号x1(t)和参考信号x2(t)之间的相对高度,进而确定每一个像素点的相对高度,复原得到待测样品表面的微观轮廓;步骤2所述的待测信号x1(t)和参考信号x2(t)表示如下:x1(t)=s(t)+n1(t)x2(t)=s(t‑τ)+n2(t)式中,x1(t)和x2(t)是两个独立的含有噪声的信号,s(t)是原始信号,n1(t)为待测信号x1(t)的背景噪声,n2(t)为参考信号x2(t)的背景噪声,原始信号s(t)和背景噪声n1(t)、n2(t)相互独立,τ为待测信号x1(t)和参考信号x2(t)之间的延迟量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京理工大学,未经南京理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610403134.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top