[发明专利]双折射透镜光栅的折射率匹配检测方法、制造装置及制造方法

摘要

双折射透镜光栅的折射率匹配检测方法、制造装置及制造方法，属于3D显示领域，本发明为解决现有双折射透镜光栅检测工艺差，进而导致其制造成本高、成功率低、良率低的问题。本发明所述双折射透镜光栅的折射率匹配检测方法：判断平行光聚焦后在CCD图像传感器上的投影图像宽度f1是否与基准宽度f相等，若相等，表明匹配；若不相等，则不匹配。双折射透镜光栅的制造装置及方法：判断平行光聚焦后在CCD图像传感器上的投影图像宽度f1是否与基准宽度f相等，若相等，表明匹配；若不相等，则根据二者的偏差调整固化温度以使其达到匹配的程度。

主权项

1.双折射透镜光栅的折射率匹配检测方法，其特征在于，光源(4)发出的单色平行光依次经过检偏装置(5)和镜柱装置(6)从下方入射至双折射透镜光栅(1)；检偏装置(5)的透光轴方向与双折射透镜光栅(1)的液晶配向方向一致；镜柱装置(6)和双折射透镜光栅(1)之间的距离为镜柱装置(6)的镜柱焦距，镜柱装置(6)的焦平面位于双折射透镜光栅(1)单元轴中心位置，镜柱装置(6)的镜柱长轴方向与双折射透镜光栅(1)的透镜阵列基板(1‑1)的倾角方向一致；CCD图像传感器(8)从上方拾取经镜柱装置(6)及双折射透镜光栅(1)作用后的光线成像图，CCD图像传感器(8)与双折射透镜光栅(1)之间的距离为双折射液晶(1‑2)与透镜阵列基板(1‑1)的折射率匹配的情况下所拾取到的清晰光线成像图时的距离；该方法包括以下步骤：步骤A1、将待检测的双折射透镜光栅(1)置于透光承载装置(7)上，并打开光源(4)；步骤A2、检偏装置(5)将光源(4)发出的波长为λ的单色光转化为偏振光；步骤A3、该偏振光经过镜柱装置(6)后，由平行光聚焦至双折射透镜光栅(1)的入光侧；步骤A4、聚焦后的光束进入双折射透镜光栅(1)为发散光束，该发散光束从双折射透镜光栅(1)出射后被CCD图像传感器(8)拾取，光线在CCD图像传感器(8)上的投影图像的宽度为f1；步骤A5、判断投影图像宽度f1是否与基准宽度f相等，若相等，表明待检测的双折射透镜光栅(1)中的双折射液晶(1‑2)与透镜阵列基板(1‑1)的折射率匹配；若不相等，则表明待检测的双折射透镜光栅(1)中的双折射液晶(1‑2)与透镜阵列基板(1‑1)的折射率不匹配。