[发明专利]硅基太阳能电池N型表面隧穿氧化钝化接触制作方法在审
申请号: | 201610387754.6 | 申请日: | 2016-06-02 |
公开(公告)号: | CN107464855A | 公开(公告)日: | 2017-12-12 |
发明(设计)人: | 钱峥毅;汪建强;郑飞;林佳继;张忠卫;石磊 | 申请(专利权)人: | 上海神舟新能源发展有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司31225 | 代理人: | 陈亮 |
地址: | 201112 上海市闵行*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及硅基太阳能电池N型表面隧穿氧化钝化接触制作方法,包括以下步骤(1)前道工序处理后对单晶硅片表面用溶液清洗,去除表面氧化层;(2)对单晶硅片表面进行氧化,形成一层超薄隧穿氧化层;(3)利用化学气相沉积法在超薄隧穿氧化层上方沉积硅薄层,并完成对该硅薄层的磷掺杂;(4)将硅片进行氧化退火,进一步改善硅层微观结构及性能;(5)在掺磷硅薄层上方采用等离子体增强化学气相沉积法沉积氮化硅钝化减反射层;(6)在氮化硅钝化减反射层的表面印刷金属电极,即完成制作过程。本发明可大幅降低电池片的表面复合,起到优良的钝化效果,提升开路电压;产品具有良好的热稳定性,无需开发专用低温工艺,从而降低成本。 | ||
搜索关键词: | 太阳能电池 表面 氧化 钝化 接触 制作方法 | ||
【主权项】:
硅基太阳能电池N型表面隧穿氧化钝化接触制作方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:(1)对单晶硅片进行前道工序处理,然后对单晶硅片要进行隧穿氧化钝化接触的N型表面用溶液清洗,去除表面氧化层;(2)对处理后的单晶硅片表面进行氧化,形成一层超薄隧穿氧化层;(3)利用化学气相沉积法在超薄隧穿氧化层上方沉积硅薄层,并进行磷掺杂,形成掺磷硅薄层;(4)将硅片进行氧化退火,进一步改善硅层微观结构及性能;(5)在掺磷硅薄层上方采用等离子体增强化学气相沉积法沉积氮化硅钝化减反射层;(6)在氮化硅钝化减反射层的表面印刷金属电极,确保电极与硅片间形成良好的接触,即完成硅基太阳能电池N型表面隧穿氧化钝化接触的制作。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的