[发明专利]解码方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元有效

专利信息
申请号: 201610365183.6 申请日: 2016-05-27
公开(公告)号: CN107436820B 公开(公告)日: 2020-07-17
发明(设计)人: 颜恒麟;萧又华 申请(专利权)人: 深圳大心电子科技有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10;G11C29/42
代理公司: 深圳壹舟知识产权代理事务所(普通合伙) 44331 代理人: 寇闯
地址: 518057 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种解码方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元。所述解码方法包括:基于预设硬决策电压电平读取多个记忆胞以获得硬比特信息并对其解码;若解码失败,基于多个预设软决策电压电平读取记忆胞以获得软比特信息并对其解码;若解码失败,基于多个第一测试电压电平读取记忆胞以获得第一软比特信息并基于多个第二测试电压电平读取记忆胞以获得第二软比特信息;根据第一软比特信息获得第一评估参数并根据第二软比特信息获得第二评估参数;以及根据第一评估参数与第二评估参数更新预设硬决策电压电平。藉此,可提升解码效率。
搜索关键词: 解码 方法 存储器 存储 装置 控制电路 单元
【主权项】:
一种解码方法,用于包括多个记忆胞的可复写式非易失性存储器模块,其特征在于,所述解码方法包括:基于预设硬决策电压电平读取所述多个记忆胞中的多个第一记忆胞以获得硬比特信息;对所述硬比特信息执行硬解码操作;若所述硬解码操作失败,基于多个预设软决策电压电平读取所述多个第一记忆胞以获得软比特信息;对所述软比特信息执行软解码操作;若所述软解码操作失败,基于多个第一测试电压电平读取所述多个第一记忆胞以获得第一软比特信息并基于多个第二测试电压电平读取所述多个第一记忆胞以获得第二软比特信息;根据所述第一软比特信息获得第一评估参数并根据所述第二软比特信息获得第二评估参数,其中所述第一评估参数对应于所述多个第一记忆胞中符合第一状态条件的记忆胞的第一总数,其中所述第二评估参数对应于所述多个第一记忆胞中符合第二状态条件的记忆胞的第二总数;以及根据所述第一评估参数与所述第二评估参数更新所述预设硬决策电压电平。
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