[发明专利]裁切装置及下刀深度检测方法有效

专利信息
申请号: 201610356803.X 申请日: 2016-05-26
公开(公告)号: CN106003227B 公开(公告)日: 2017-09-29
发明(设计)人: 孙盛军 申请(专利权)人: 明基材料有限公司
主分类号: B26D7/27 分类号: B26D7/27;G02B5/30;G02F1/13
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215121 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明关于一种裁切装置及下刀深度检测方法,裁切装置用于裁切片状薄膜,该裁切装置包括相对设置的第一分切刀与第二分切刀,其特征在于,还包括深度测量单元,用于检测该第一分切刀于裁切该片状薄膜时的第一下刀深度;其中,该第一分切刀与该第二分切刀分别为圆形刀片,当该第一分切刀与该第二分切刀于裁切该片状薄膜时,该第一分切刀与该第二分切刀部分相交,且具有第一相交点和第二相交点,测量该第一相交点到第二相交点的距离,该深度测量单元依据该距离与该第一分切刀的半径及/或第二分切刀的半径计算该第一分切刀的第一下刀深度。本发明的裁切装置能够简便以及快速的测得分切刀的下刀深度。
搜索关键词: 装置 深度 检测 方法
【主权项】:
一种裁切装置,用于裁切片状薄膜,该裁切装置包括:相对设置的第一分切刀与第二分切刀,其特征在于,还包括:深度测量单元,用于检测该第一分切刀于裁切该片状薄膜时的第一下刀深度;其中,该第一分切刀与该第二分切刀均为圆形刀片,当该第一分切刀与该第二分切刀裁切该片状薄膜时,该第一分切刀与该第二分切刀部分相交,且具有第一相交点和第二相交点,测量该第一相交点到第二相交点的距离,该深度测量单元依据该第一分切刀的半径及/或第二分切刀的半径与该距离计算该第一分切刀的第一下刀深度。
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