[发明专利]使用两个平行反射面的光纤白光干涉解调仪在审
| 申请号： | 201610336290.6 | 申请日： | 2016-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN105841720A | 公开（公告）日： | 2016-08-10 |
| 发明（设计）人： | 于志浩;田志鹏 | 申请（专利权）人： | 大连爱特隆光学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01D5/26 | 分类号： | G01D5/26 |
| 代理公司： | 大连非凡专利事务所 21220 | 代理人： | 高学刚 |
| 地址： | 116000 辽宁省大连市高新*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明公开一种使用两个平行反射面的光纤白光干涉解调仪，其特征在于：所述的解调仪包括宽谱光源，所述的宽谱光源所发出的光进入光耦合器的一个入射端，光耦合器的出射端与被测光学干涉传感器相连，光耦合器的另一个入射端与入射光纤相连，入射光纤出射端发出的有一定发散角的空间光束照射到透明平行光学反射面对上，且入射光纤的出射端的轴线与透明平行光学反射面对之间的夹角为20‑70°，在透明平行光学反射面对的反射方向上设置有阵列光探测器，所述透明平行光学反射面对的两个表面的反射率在3%到20%之间，所述被测干涉传感器的初始光程差为L，所述透明平行光学反射面对的光学厚度为L±0.5L。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 两个 平行 反射 光纤 白光 干涉 解调 | ||
【主权项】：
1.一种使用两个平行反射面的光纤白光干涉解调仪，其特征在于：所述的解调仪包括宽谱光源（1），所述的宽谱光源（1）所发出的光通过第一光路（2）输入光耦合器（3），所述的光耦合器（3）通过第二光路（4）与被测干涉传感器（5）连接，所述的光耦合器（3）还通过第三光路（6）与入射光纤（7）相连，入射光纤（7）的出射端与一平行光学反射面对（9）相配合，且入射光纤（7）的出射端的轴线与平行光学反射面对（9）之间的夹角为20-70°，在平行光学反射面对（9）的反射方向上设置有阵列光探测器（11），所述平行光学反射面对（9）的两个表面反射率范围在3%到20%之间，且平行光学反射面对（9）的两个表面的反射率相同，所述被测干涉传感器（5）的初始光程差为L，所述平行光学反射面对（9）的光学厚度为0.5L-1.5L。
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