[发明专利]颗粒物光散射测量系统及方法在审
| 申请号： | 201610334706.0 | 申请日： | 2016-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN106018193A | 公开（公告）日： | 2016-10-12 |
| 发明（设计）人： | 宾泽明;刘燕林;文新江;邱致刚 | 申请（专利权）人： | 中兴仪器（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N15/02;G01N15/06 |
| 代理公司： | 深圳市舜立知识产权代理事务所(普通合伙) 44335 | 代理人： | 李亚萍 |
| 地址： | 518101 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种颗粒物光散射测量系统，包括散射测量室、光源、散射光探测器、数据采集分析模块、光源起偏装置及多个散射光检偏装置。所述散射测量室包括光通道及颗粒物进样通道，所述光通道的中心线和所述颗粒物进样通道的中心线相交于一交汇点。所述光源安装于所述散射测量室一侧。所述光源起偏装置位于所述散射测量室及所述光源之间。所述多个散射光检偏装置位于以所述交汇点为起点与所述光通道的中心线成不同角度位置上，所述散射光探测器对应所述多个散射光检偏装置设置，用于接收来自所述多个散射光检偏装置的光线。本发明还提供一种颗粒物光散射测量方法。本发明是基于颗粒物多角度散射法对颗粒物测量，可测定颗粒物的粒径及属性。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 散射 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种颗粒物光散射测量系统，包括：散射测量室；光源；安装于所述散射测量室一侧，用于提供向所述散射测量室提供光线；散射光探测器，用于接收来自散射测量室的散射光；数据采集分析模块，用于采集分析来自所述散射光探测器的光电转换信号；其特征在于：所述散射测量室包括光通道及颗粒物进样通道，所述光通道的中心线和所述颗粒物进样通道的中心线相交于一交汇点；所述颗粒物光散射测量系统还包括：光源起偏装置，位于所述散射测量室及所述光源之间；及多个散射光检偏装置，位于以所述交汇点为起点与所述光通道的中心线成不同角度位置上，所述散射光探测器对应所述多个散射光检偏装置设置，用于接收来自所述多个散射光检偏装置的光线。
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