[发明专利]一种颗粒阻尼结构谐响应分析方法

摘要

本发明公开了一种颗粒阻尼结构谐响应分析方法，目的在于，适用于对任何施加有颗粒阻尼器的结构进行谐响应分析，为与颗粒阻尼研究和应用有关的仿真计算提供方便有效仿真，方法简单，操作简便，通用性强，所采用的技术方案为：(1)对待分析结构进行模型建立、划分网格、施加边界条件和力激励并进行相应的参数设置；(2)在待分析结构上施加颗粒阻尼；(3)进行迭代求解；(4)进行后处理，查看结构上某节点处的相关结果，如幅‑频响应曲线。

主权项

1.一种颗粒阻尼结构谐响应分析方法，其特征在于，包括以下步骤：1)对待分析结构进行前处理：包括对待分析结构建立三维模型，以及对建立的三维模型进行网格划分、施加边界条件和力激励，并设置待分析结构的材料参数；2)在待分析结构上施加颗粒阻尼：2.1)设定颗粒阻尼器的相关参数；2.2)设定在待分析结构上施加颗粒阻尼器的位置坐标和方向；2.3)对待分析结构的三维模型施加颗粒阻尼；3)对整个待分析结构进行求解：3.1)计算等效阻尼系数Ceq＝0时的位移响应X；3.2)提取施加有颗粒阻尼的节点的位移响应幅值|X|(k)；3.3)根据下列公式计算迭代后的位移响应幅值|X|^(k+1)，并转换成响应的速度响应幅值表示根据幅值|X|进行参数设定并求解获得的稳态响应幅值，λ为根据结构初始稳态响应确定的松弛因子；ψ(|X|)为迭代后的位移响应幅值；3.4)根据获得的求解等效阻尼系数C_eq；3.5)更改待分析结构中的颗粒阻尼对应的等效阻尼系数Ceq，并求解；3.6)重复步骤3.2)～3.5)，直到满足收敛条件：|X|(k+1)‑|X|(k)的绝对值足够小，即完成求解；4)对步骤3)求解的结果进行后处理：包括参数导出、查看振型图以及幅‑频响应曲线，即完成颗粒阻尼结构谐响应分析方法。