[发明专利]一种微推力测试系统及方法

摘要

本发明公开一种微推力测试系统,其适用于1～1000mN，推重比为10‑5～10‑2范围内的推力的测试，在测量带宽足够的情况下，大大提高了测量精度。其包括台架、位移传感器、在线标定组件、阻尼系统、计算机测控设备；所述计算机测控设备包括相连的高频数据采集卡、工控机、显示装置；反射式激光位移传感器采集的位移数据通过工控机处理后经过显示装置来展现；工控机控制升降台的高度，测量标准砝码加载下的摆推力响应，实现稳态推力标定；工控机控制阻尼系统来使台架静止。还提供了采用这种装置的测试方法。

主权项

1.一种微推力测试系统，其包括台架、位移传感器、在线标定组件、阻尼系统、计算机测控设备；其特征在于：所述台架为扭摆结构，包括台架本体、挠性轴、悬臂、配重以及推力器固定装置，悬臂水平放置，中部安装挠性轴与台架本体连接，悬臂的一端放置配重且另一端连接推力器固定装置，微推力器放在推力器固定装置上；所述位移传感器为反射式激光位移传感器，其发出的光束信号经过悬臂的侧表面反射，返回后被其内部的CCD记录并处理，从而获得其与悬臂侧面的绝对距离；所述在线标定组件利用悬丝悬挂标准砝码，通过升降台来控制悬丝松紧，从而产生稳态推力，对微推力测试系统进行标定；所述阻尼系统包括线圈和铁芯，线圈固定于台架的固定底座上，当铁芯相对于线圈运动时候产生电磁吸斥力，从而逐渐静止扭摆；所述计算机测控设备包括相连的高频数据采集卡、工控机、显示装置；反射式激光位移传感器采集的位移数据通过工控机处理后经过显示装置来展现；工控机控制升降台的高度，测量标准砝码加载下的摆推力响应，实现稳态推力标定；工控机控制阻尼系统来使扭摆静止。