[发明专利]基于c切割晶体制备高功率激光头的方法在审

专利信息
申请号: 201610311325.0 申请日: 2016-05-11
公开(公告)号: CN105811238A 公开(公告)日: 2016-07-27
发明(设计)人: 林华;梁晓燕 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: H01S3/16 分类号: H01S3/16;H01S3/042
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯;张宁展
地址: 201800 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种基于c切割晶体制备高功率激光头的方法,利用c切割晶体作为增益介质,使得晶体c轴方向与通光方向平行,泵浦光学器件将泵浦源出射的泵浦光汇聚到c切割方式的晶体中心,冷却装置对晶体的侧面进行冷却。本发明的特点是:巧妙利用了c切割方式晶体的材料性质,使得晶体对泵浦光的吸收更加均匀,并对内部废热的承受程度更高,从而使得激光头可以承受更高的泵浦功率,以实现高功率激光头。本发明具有简单易行,实用性强的特点。
搜索关键词: 基于 切割 晶体 制备 功率 激光头 方法
【主权项】:
一种基于c切割晶体制备高功率激光头的方法,所述的高功率激光头包括c切割方式的晶体(1)、冷却装置(2)、泵浦源(3)和泵浦光学器件(4),其特征在于该方法包括下列步骤:①将所述的c切割方式的晶体(1)固定在所述的冷却装置(2)中使所述的c切割方式的晶体(1)的c轴方向与所述的冷却装置(2)的轴重合;②利用冷却装置对所述的晶体(1)的侧面进行冷却,使热传导的方向和所述的晶体的a轴方向一致;③依次设置所述的泵浦源(3)、泵浦光学器件(4)和所述的冷却装置(2),使所述的泵浦源(3)的输出光方向依次是所述的泵浦光学器件(4)和c切割方式的晶体(1),调整所述的泵浦源(3)、泵浦光学器件(4)和所述的冷却装置(2),经所述的泵浦光学器件(4)后的泵浦光汇聚到所述的c切割方式的晶体(1)的中心区域,且泵浦光的焦点和所述的c切割方式的晶体(1)的入射表面重合;④将所述的c切割方式的晶体(1)、冷却装置(2)、泵浦源(3)和泵浦光学器件(4)固定。
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