[发明专利]一种高性能中子准直器及其组装方法有效
申请号: | 201610300950.5 | 申请日: | 2016-05-06 |
公开(公告)号: | CN105931694B | 公开(公告)日: | 2018-05-22 |
发明(设计)人: | 付金煜;陶举洲 | 申请(专利权)人: | 东莞中子科学中心 |
主分类号: | G21K1/02 | 分类号: | G21K1/02 |
代理公司: | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 | 代理人: | 司立彬 |
地址: | 523800 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种高性能中子准直器及其组装方法。本发明的中子准直器包括一个或若干密封连接的单体准直器,每一单体准直器包括一真空腔组件和位于该真空腔组件内的准直插件;其中,该准直插件包括一插件壳体,该插件壳体内设有多个阻挡块,该插件壳体内壁上相邻阻挡块之间设有屏蔽块;所述阻挡块的中心设有通孔,通孔的轴线与该插件壳体的轴线重合。与现有技术相比,本发明准直距离长、本底低,能显著地减少杂散/寄生散射中子从而降低本底、提高性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 性能 中子 准直器 及其 组装 方法 | ||
【主权项】:
1.一种高性能中子准直器,其特征在于,包括若干密封连接的单体准直器,每一单体准直器包括一真空腔组件和位于该真空腔组件内的准直插件;其中,该准直插件包括一插件壳体,该插件壳体内设有多个阻挡块,相邻阻挡块之间设有屏蔽块;所述阻挡块的中心设有通孔,通孔的轴线与该插件壳体的轴线重合;相邻阻挡块的间距为:从中子源横截面的极限边界点向第i个阻挡块开孔的边缘上对应的极限边界点划线,将与束线中心线夹角最大的划线延长至与屏蔽块的内壁相交,将第i+1个阻挡块布置在该交点的前方;相邻单体准直器通过波纹管法兰组件密封连接,内部真空环境联通,并且波纹管法兰区域通过单体准直器中的准直插件延伸出其真空腔以外至相邻另一单体准直器的准直插件端面附近。
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