[发明专利]基于非负矩阵分解的频域鲁棒图像可逆水印方法有效

专利信息
申请号: 201610284882.8 申请日: 2016-04-29
公开(公告)号: CN106097236B 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 安玲玲;林建忠;尹广学;蔡固顺;王泉 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06T1/00 分类号: G06T1/00
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 田文英;王品华
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种基于非负矩阵分解的频域鲁棒图像可逆水印方法,具体步骤包括:(1)生成二值水印;(2)载体图像分块;(3)Slantlet变换;(4)非负矩阵分解;(5)计算质心横坐标;(6)生成极性横坐标序列;(7)保存秘钥;(8)待检测图像分块;(9)Slantlet变换;(10)非负矩阵分解;(11)计算质心横坐标;(12)生成待检测极性横坐标序列;(13)提取水印。本发明解决了现有的鲁棒可逆水印方法水印容量低,视觉质量不高,含水印图像鲁棒性不强的问题。本发明利用了Slantlet变换进行鲁棒可逆水印的提取与检测,不仅提高含水印图像的鲁棒性,而且提高了水印容量和视觉质量。
搜索关键词: 基于 矩阵 分解 频域鲁棒 图像 可逆 水印 方法
【主权项】:
1.一种基于非负矩阵分解的频域鲁棒图像可逆水印方法,包括水印嵌入和水印提取两个过程;所述水印嵌入过程的具体步骤为:(1)生成二值水印:(1a)将灰度图像进行二值化处理,得到二值图像;(1b)将二值图像从左上方提取r×r像素的一块正方形基块,将此正方形基块作为二值水印,其中,r≤min(e,f),min(e,f)表示取灰度图像中行数e与列数f的最小值;(2)载体图像分块:(2a)将载体图像分成大小相同且互不重叠的子块,得到一组载体图像块序列;(2b)丢弃分块后不能被划分的剩余部分;(3)Slantlet变换:依次选取载体图像块序列中各个子块,按照下式,对所选取的载体图像块序列中的子块进行Slantlet变换,得到低频子带序列:Si=Slantlet(Bi)其中,Si表示经过Slantlet变换之后的第i个低频子带,Slantlet表示Slantlet变换操作,Bi表示载体图像块序列中第i个子块,1≤i≤m,m表示载体图像块序列的所有块数;(4)非负矩阵分解:对低频子带序列中的各低频子带进行非负矩阵分解,得到系数矩阵序列;(5)计算质心横坐标:依次选取系数矩阵序列中各个子块,按照下式,对所选取的系数矩阵序列中的子块进行质心横坐标计算,得到质心横坐标序列:Xk=getAbsci(Hk)其中,Xk表示经过质心横坐标计算之后得到的质心横坐标序列中的第k个值,getAbsci表示质心横坐标计算操作,Hk表示系数矩阵序列中第k个子块,1≤k≤m,m表示载体图像块序列的所有块数;(6)生成极性横坐标序列:(6a)按照下式,计算质心横坐标序列的平均值:其中,表示质心横坐标序列的平均值,m表示载体图像块序列的所有块数,Σ表示求和操作,Xj表示质心横坐标序列中的第j个值,1≤j≤m;(6b)依次选取质心横坐标序列中各个值,按照下式,对所选取的质心横坐标序列中的值计算极性横坐标,得到极性横坐标序列:其中,Vl表示经过极性横坐标计算之后得到的极性横坐标序列中的第l个值,Xl表示质心横坐标序列中的第l个值,表示质心横坐标序列的平均值,1≤l≤m,m表示载体图像块序列的所有块数;(7)保存秘钥:将极性横坐标序列与二值水印进行异或运算,得到水印检测密钥;所述水印提取过程的具体步骤如下:(8)待检测图像分块:(8a)将待检测图像分成大小相同且互不重叠的子块,得到一组待检测图像块序列;(8b)丢弃分块后不能被划分的剩余部分;(9)Slantlet变换:依次选取待检测图像块序列中各个子块,按照下式,对所选取的待检测图像块序列中的子块进行Slantlet变换,得到待检测低频子带序列:S′p=Slantlet(B′p)其中,S′p表示经过Slantlet变换之后的第p个低频子带,Slantlet表示Slantlet变换操作,B′p表示待检测图像块序列中第p个子块,1≤p≤n,n表示水印检测密钥的大小;(10)非负矩阵分解:对待检测低频子带序列中的各个低频子带进行非负矩阵分解,得到待检测系数矩阵序列;(11)计算质心横坐标:依次选取待检测系数矩阵序列中各个子块,按照下式,对所选取的待检测系数矩阵序列中的子块进行质心横坐标计算,得到待检测质心横坐标序列:X′q=getAbsci(H′q)其中,X′q表示经过质心横坐标计算之后得到的待检测质心横坐标序列中的第q个值,getAbsci表示质心横坐标计算操作,H′q表示待检测系数矩阵序列中第q个子块,1≤q≤n,n表示水印检测密钥的大小;(12)生成待检测极性横坐标序列:(12a)按照下式,计算待检测质心横坐标序列的平均值:其中,表示待检测质心横坐标序列的平均值,n表示水印检测密钥的大小,∑表示求和操作,X′t表示待检测质心横坐标序列中的第t个值,1≤t≤n;(12b)依次选取待检测质心横坐标序列中各个值,按照下式,对所选取的待检测质心横坐标序列中的值计算极性横坐标,得到待检测极性横坐标序列:其中,V′y表示经过极性横坐标计算之后得到的待检测极性横坐标序列中的第y个值,X′y表示待检测质心横坐标序列中的第y个值,表示待检测质心横坐标序列的平均值,1≤y≤n,n表示水印检测密钥的大小;(13)提取水印:将待检测极性横坐标序列与水印检测密钥做异或运算,得到还原后的水印。
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