[发明专利]基于穆勒矩阵的应力检测装置及方法在审
| 申请号： | 201610268761.4 | 申请日： | 2016-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN107314839A | 公开（公告）日： | 2017-11-03 |
| 发明（设计）人： | 钟凤娇;高海军;党江涛 | 申请（专利权）人： | 睿励科学仪器（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01L1/24 | 分类号： | G01L1/24;G01L5/00 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人： | 郑立柱 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本公开的各实施例涉及一种基于穆勒矩阵的应力检测装置及方法，该装置包括以下光学器件依照光的传播方向设置的光源、起偏器、第一相位补偿器、待检测的光学材料、第二相位补偿器、检偏器和光探测器；其中利用穆勒矩阵表示上述光学器件，并且基于光经过上述光学器件所对应的穆勒矩阵的运算关系来逆向求解所述待检测的光学材料的穆勒矩阵元，所述待检测的光学材料的穆勒矩阵中的部分穆勒矩阵元表示所述待检测的光学材料的应力。通过本公开的应力检测装置和方法，可以定量地测量材料的应力，且精度、灵敏度和分辨率高、并且测量可靠快速。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 穆勒 矩阵 应力 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种基于穆勒矩阵的应力检测装置，包括以下光学器件：依照光的传播方向设置的光源(101)、起偏器(102)、第一相位补偿器(103)、待检测的光学材料(104)、第二相位补偿器(105)、检偏器(106)和光探测器(107)；其中基于光经过上述光学器件所对应的穆勒矩阵的运算关系来逆向求解所述待检测的光学材料的穆勒矩阵元，所述待检测的光学材料的穆勒矩阵中的部分穆勒矩阵元表示所述待检测的光学材料的应力。
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