[发明专利]一种DNA碱基序列检测的双层SiN纳米孔结构的制作方法有效

专利信息
申请号: 201610256247.9 申请日: 2016-04-22
公开(公告)号: CN105776127B 公开(公告)日: 2017-05-03
发明(设计)人: 凌新生;袁志山 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;B82Y40/00
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙)32204 代理人: 柏尚春
地址: 210096*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种DNA碱基序列检测的双层SiN纳米孔结构及其制作方法。包括首先提供一硅基体作为基板;在基体两侧表面通过LP‑CVD工艺沉积由3层纳米薄膜组成的结构层,从基体向上分别为SiN/SiO2/SiN;接着使用LP‑CVD工艺在所述结构层表面沉积牺牲层;刻蚀基体一侧所述结构层和所述牺牲层形成基体释放窗口;接着使用碱性溶液刻蚀所述硅基体得到由所述结构层和所述牺牲层组成的自支撑纳米薄膜。刻蚀掉所述自支撑纳米薄膜上方的牺牲层,得到悬空所述结构层。接着,使用氦离子束在悬空所述结构层上刻蚀出纳米通孔。最后使用缓冲过的氢氟酸刻蚀所述结构层中的SiO2得到由SiO2空腔分割开的双层SiN纳米孔结构。本发明工艺简单,与CMOS工艺的兼容使其有较好的扩展性,同时可以重复循环使用,在生化检测领域有着较广的使用前景。
搜索关键词: 一种 dna 碱基 序列 检测 双层 sin 纳米 结构 制作方法
【主权项】:
一种DNA碱基序列检测的双层SiN纳米孔结构的制作方法,其特征在于,所述制作方法包括以下步骤:1.)提供一硅基体作为基板;2.)在基板两侧表面通过低压化学气相沉积法LP‐CVD工艺沉积3层纳米薄膜组成的结构层,该结构层从基板向上的层结构顺序为SiN/SiO2/SiN;3.)使用LP‐CVD工艺在所述结构层表面沉积牺牲层;4.)利用反应离子刻蚀RIE,刻蚀所述硅基体一侧所述结构层和所述牺牲层形成硅基体释放窗口;5.)使用碱性溶液刻蚀所述硅基体得到由所述结构层和所述牺牲层组成的自支撑纳米薄膜;6.)再次使用刻蚀的办法,刻蚀掉所述自支撑纳米薄膜上方的牺牲层,得到悬空的所述结构层;7.)使用氦离子束在所述结构层上刻蚀出纳米通孔;8.)最后使用缓冲过的氢氟酸BOE刻蚀所述结构层中的SiO2,得到由SiO2空腔分割开的双层SiN纳米孔结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东南大学,未经东南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610256247.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top