[发明专利]芯片中的DIE ID的读取电路以及芯片有效
| 申请号： | 201610255945.7 | 申请日： | 2016-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN105895158B | 公开（公告）日： | 2020-01-31 |
| 发明（设计）人： | 梁波;王琦;刘元 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/26 | 分类号： | G11C16/26 |
| 代理公司： | 44202 广州三环专利商标代理有限公司 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片中的裸片标识的读取电路，所述读取电路包括：芯片损坏检测电路、开关选择器、熔丝控制器以及熔丝器件；熔丝器件存储DIE ID；熔丝控制器读取熔丝器件中的DIE ID；芯片损坏检测电路检测芯片中的处理器是否能够正常工作以得到检测结果，并将检测结果通知开关选择器；开关选择器在检测结果为处理器能正常工作时，将处理器与熔丝控制器连通以选择通过处理器控制熔丝控制器读取熔丝器件中的DIE ID，并在检测结果为处理器不能正常工作时，将位于芯片之外的维护设备与熔丝控制器连通以选择通过维护设备控制熔丝控制器读取熔丝器件中的DIE ID。上述电路能够在处理器不能正常工作时，依然能够读取DIE ID。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 中的 die id 读取 电路 以及 | ||
【主权项】：
1.一种芯片中的裸片DIE标识ID的读取电路，其特征在于，所述读取电路包括：芯片损坏检测电路、开关选择器、熔丝控制器以及熔丝器件；其中/n所述熔丝器件用于存储所述DIE ID；/n所述熔丝控制器用于读取所述熔丝器件中的所述DIE ID；/n所述芯片损坏检测电路用于检测所述芯片中的处理器是否能够正常工作以得到检测结果，并将所述检测结果通知所述开关选择器；/n所述开关选择器用于在所述检测结果为所述处理器能正常工作时，将所述处理器与所述熔丝控制器连通以选择通过所述处理器控制所述熔丝控制器读取所述熔丝器件中的DIEID，并在所述检测结果为所述处理器不能正常工作时，将位于所述芯片之外的维护设备与所述熔丝控制器连通以选择通过所述维护设备控制所述熔丝控制器读取所述熔丝器件中的DIE ID。/n
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