[发明专利]一种发射机芯片的测试方法和装置在审
| 申请号： | 201610251278.5 | 申请日： | 2016-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN105897350A | 公开（公告）日： | 2016-08-24 |
| 发明（设计）人： | 梅张雄;程晟 | 申请（专利权）人： | 北京联盛德微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | H04B17/10 | 分类号： | H04B17/10;H04B17/15 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100044 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种发射机芯片的测试方法和装置，包括：接收待测芯片根据测试固件发射的测试速率下的信号；将所述测试速率下的信号发送至数字信号处理芯片，以使所述数字信号处理芯片对所述测试速率下的信号进行计算和解析得出测试结果，并将所述测试结果发送至测试机台。根据本发明提供的发射机芯片的测试方法和装置，利用芯片发射和接收待测芯片的信号并进行解析，从而取代传统校准和测试模式中的仪器，并通过固件实现校准和测试的自动化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发射机 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种发射机芯片的测试方法，其特征在于，包括：标准芯片接收待测芯片根据测试固件发射的测试速率下的信号；所述标准芯片将所述测试速率下的信号发送至数字信号处理芯片，以使所述数字信号处理芯片对所述测试速率下的信号进行计算和解析得出测试结果，并将所述测试结果发送至测试机台。
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