[发明专利]一种发射机芯片的校准方法和装置在审
| 申请号： | 201610251277.0 | 申请日： | 2016-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN105959067A | 公开（公告）日： | 2016-09-21 |
| 发明（设计）人： | 梅张雄;程晟 | 申请（专利权）人： | 北京联盛德微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | H04B17/11 | 分类号： | H04B17/11 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100044 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种发射机芯片的校准方法和装置，包括：待测芯片发射正弦信号至标准芯片，以使所述标准芯片能够将所述正弦信号传输给数字信号处理芯片进行解析；所述待测芯片根据测试机台发送的测试结果，调整直流偏置参数和I/Q通道偏模参数；其中，所述测试机台发送的测试结果是根据所述数字信号处理芯片对所述正弦信号进行解析而获得的。根据本发明提供的一种发射机芯片的校准方法和装置能够利用芯片自身发射和接收待测芯片的信号并进行解析，取代传统校准和测试模式中的仪器，并通过固件实现校准和测试的自动化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发射机 芯片 校准 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种发射机芯片的校准方法，包括：待测芯片发射正弦信号至标准芯片，以使所述标准芯片能够将所述正弦信号传输给数字信号处理芯片进行解析；所述待测芯片根据测试机台发送的测试结果，调整直流偏置参数和I/Q通道偏模参数；其中，所述测试机台发送的测试结果是根据所述数字信号处理芯片对所述正弦信号进行解析而获得的。
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