[发明专利]颗粒物浓度检测方法在审
申请号: | 201610248232.8 | 申请日: | 2016-04-20 |
公开(公告)号: | CN107305179A | 公开(公告)日: | 2017-10-31 |
发明(设计)人: | 陈威;佐藤俊一;冯立辉;黄艺贤 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 日本国大阪府大阪*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及颗粒物浓度检测方法,包括使光照射到包含已知浓度的至少一种颗粒物的参考气体上,产生光散射效应,并使用光检测器检测所述光在至少一个光散射角度上的散射强度,作为所述至少一种颗粒物的参考值;使相同强度的光照射到包含浓度未知的所述至少一种颗粒物的待测气体上,并且所述光检测器检测所述光在所述至少一个光散射角度上的散射强度,作为所述至少一种颗粒物的测量值;以及根据颗粒物散射原理,基于所述参考值和所述测量值,计算所述至少一种颗粒物的浓度。根据本发明的颗粒物浓度检测方法的成本较低,且能够迅速地检测颗粒物浓度。 | ||
搜索关键词: | 颗粒 浓度 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种颗粒物浓度检测方法,包括:使光照射到包含已知浓度的至少一种颗粒物的参考气体上,产生光散射效应,并使用光检测器检测所述光在至少一个光散射角度上的散射强度,作为所述至少一种颗粒物的参考值;使相同强度的光照射到包含浓度未知的所述至少一种颗粒物的待测气体上,并且所述光检测器检测所述光在所述至少一个光散射角度上的散射强度,作为所述至少一种颗粒物的测量值;以及根据颗粒物散射原理,基于所述参考值和所述测量值,计算所述至少一种颗粒物的浓度。
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