[发明专利]气溶胶参数差异条件下对地观测辐射图像的快速仿真方法有效
| 申请号： | 201610237078.4 | 申请日： | 2016-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN105953921B | 公开（公告）日： | 2018-11-06 |
| 发明（设计）人： | 何晓雨;许小剑 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 杨学明;顾炜 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种气溶胶参数差异条件下对地观测辐射图像的快速仿真方法，包括：步骤1：选定标准气溶胶廓线参数；步骤2：查表法反演场景中各像素单元的气溶胶参数；步骤3：查询各像元对应的真实地表高程信息；步骤4：计算各像元的消光系数等效地表高度；步骤5：二流近似方法求解辐射传输方程，得到各类辐射的辐射矩阵；步骤6：获得各像元的光谱特性信息；步骤7：辐射矩阵插值方法仿真对地观测辐射图像。本发明图像仿真速度快，与传统方法相比，相同平台下仿真计算速度可提高10‑20倍；该方法的通用性好：所提出的仿真方法不受场景中气溶胶参数设定方法的限制，既适用于仿真真实在轨传感器的观测图像，也适用于仿真想定观测场景的红外辐射图像。 | ||
| 搜索关键词： | 气溶胶 参数 差异 条件下 观测 辐射 图像 快速 仿真 方法 | ||
【主权项】：
1.一种气溶胶参数差异条件下对地观测辐射图像的快速仿真方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1：选定标准气溶胶廓线参数；步骤2：查表法反演场景中各像素单元的气溶胶参数；步骤3：查询各像元对应的真实地表高程信息；步骤4：计算各像元的消光系数等效地表高度；步骤4中所述的计算各像元的消光系数等效地表高度具体步骤包括：计算各像元实际的光学厚度，依据步骤1中指定的气溶胶标准廓线求解等效地表高度，使得各像元的光学厚度保持不变；步骤5：二流近似方法求解辐射传输方程，得到各类辐射的辐射矩阵；步骤6：获得各像元的光谱特性信息；步骤7：辐射矩阵插值方法仿真对地观测辐射图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学，未经北京航空航天大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610237078.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
