[发明专利]放大器增益均匀性的测试装置及方法有效
| 申请号： | 201610218369.9 | 申请日： | 2016-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN105910717B | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 樊仲维;郭广妍;陈艳中;贾丹;林蔚然;刘昊 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电研究院 |
| 主分类号： | G01J5/02 | 分类号： | G01J5/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种放大器增益均匀性的测试装置及方法，该测试装置包括：光源，提供种子光；扩束镜，对种子光进行扩束，得到大口径光斑；板条放大模块，用于对大口径光斑进行放大；探测器，用于测量光斑的强度分布；处理器，计算每个像素点的增益系数G(i,j)＝P2(i,j)/P1(i,j)，其中，P1(i,j)和P2(i,j)分别为放大前和放大后的大口径光斑的强度，再根据增益系数获取板条放大模块的增益均匀性。通过上述方式，本发明能够直观、高精度地测量增益均匀性。 | ||
| 搜索关键词： | 放大器 增益 均匀 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种放大器增益均匀性的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：/n光源，提供种子光；/n扩束镜，对所述种子光进行扩束，得到大口径光斑；/n板条放大模块，用于对所述大口径光斑进行放大；/n探测器，用于测量光斑的强度分布；/n处理器，计算每个像素点的增益系数G(i,j)＝P2(i,j)/P1(i,j)，其中，P1(i,j)和P2(i,j)分别为放大前和放大后的大口径光斑的强度，再根据增益系数获取板条放大模块的增益均匀性；/n所述测试装置还包括缩束镜，用于对经过放大后的光斑进行缩束，以得到与探测器尺寸相匹配的光斑；/n其中，所述处理器根据每个像素点的增益系数G(i,j)分别获取增益的最大值和平均值，进一步计算增益均匀性G_uniformity＝G_max(i,j)/G_average(i,j)，其中，G_uniformity表示板条放大模块的增益均匀性，G_max(i,j)表示增益的最大值，G_average(i,j)表示增益的平均值。/n
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