[发明专利]基于双边带调制与受激布里渊散射效应的光器件光谱响应测量方法及测量装置

摘要

本发明公开了一种基于双边带调制与受激布里渊散射效应的光器件频谱响应测量方法，将光源输出的光载波分成两路；此信号经过待测光器件后，扫频双边带信号与移频后的载波在光电探测器中拍频，可得到携带待测光器件在扫频双边带信号频率处的光谱响应信息的两个频率不同的射频信号；利用射频幅相提取模块分别提取所述两个射频信号的幅度相位信息，得到待测光器件在光探测信号频率处的幅频响应与相频响应；改变所述光探测信号的波长并重复上述过程，得到待测光器件的光谱矢量响应信息。本发明还公开了一种基于双边带调制的光器件测量装置。相比现有技术，本发明大幅提高了测量范围和测量效率。

主权项

1.基于双边带调制与受激布里渊散射效应的光器件光谱响应测量方法，其特征在于，将光源输出的光载波ωo分成两路，第一路通过双平行光电调制器模块，所述双平行光电调制器模块由两个并联的调制器组成，在调制器1中，光载波ωo被扫频微波源ωe调制，产生上下边带为ωo+ωe和ωo‑ωe的扫频双边带信号，而在调制器2中，光载波ωo被固定频率的本振模块Δω调制，所述固定频率等于受激布里渊散射频移，产生上下边带为ωo+Δω和ωo‑Δω的固定双边带信号，扫频双边带信号与固定双边带信号被耦合为一路信号；第二路作为泵浦光，通过环行器后与第一路信号相向传输，在光纤中激发受激布里渊散射效应，将频率固定的双边带信号的负一阶边带放大，正一阶边带抑制，负一阶边带即作为移频后的载波；此信号经过待测光器件后，扫频双边带信号与移频后的载波在光电探测器中拍频，可得到携带待测光器件在扫频双边带信号频率处的光谱响应信息的两个频率不同的射频信号|ωe‑Δω|与ωe+Δω；利用射频幅相提取模块分别提取所述两个射频信号的幅度相位信息，得到待测光器件在ωo+ωe和ωo‑ωe频率处的幅频响应与相频响应；改变所述扫频微波源的输出频率并重复上述过程，得到待测光器件的光谱矢量响应信息。