[发明专利]压力侦测方法在审
| 申请号： | 201610211784.1 | 申请日： | 2016-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN106598364A | 公开（公告）日： | 2017-04-26 |
| 发明（设计）人： | 陈介文 | 申请（专利权）人： | 义隆电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044;G06F3/041 |
| 代理公司： | 北京市浩天知识产权代理事务所(普通合伙)11276 | 代理人： | 刘云贵,王东 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种压力侦测方法，用于一电容式触控装置，该方法包括a.侦测该电容式触控装置的多个感应点，获得多个第一触控感应值；b.根据该多个第一触控感应值中大于一第一临界值的触控感应值的个数，取得一第一数量；c.在步骤a之后，侦测该电容式触控装置的该多个感应点，获得多个第二触控感应值；d.根据该多个第二触控感应值中大于该第一临界值的触控感应值的数量，取得一第二数量；以及e.根据该第一数量及该第二数量决定出一触控力量等级。 | ||
| 搜索关键词： | 压力 侦测 方法 | ||
【主权项】：
一种压力侦测方法，用于一电容式触控装置，其特征在于，包括：a.侦测该电容式触控装置的多个感应点，获得多个第一触控感应值；b.根据该多个第一触控感应值中大于一第一临界值的触控感应值的个数，取得一第一数量；c.在步骤a之后，侦测该电容式触控装置的该多个感应点，获得多个第二触控感应值；d.根据该多个第二触控感应值中大于该第一临界值的触控感应值的数量，取得一第二数量；以及e.根据该第一数量及该第二数量决定出一触控力量等级。
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