[发明专利]航天光学遥感器在轨MTF测量方法有效

专利信息
申请号: 201610194291.1 申请日: 2016-03-30
公开(公告)号: CN105865487B 公开(公告)日: 2018-10-30
发明(设计)人: 吴泽鹏;范凯;成飞;陈锋;游月辉;陈占胜 申请(专利权)人: 上海卫星工程研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供的一种航天光学遥感器在轨MTF测量方法,包括如下步骤:步骤1,在测试方向上设置两组相位差为m的周期靶标;步骤2,根据光学成像线性系统,建立方波信号经过光学成像系统后输出信号与在轨MTF的理论关系;步骤3,根据传感器对两组周期靶标的采样结果;步骤4,步骤1和步骤3中对输出信号的拟合结果计算其输出调制度,结合地面靶标的输入调制度计算传感器的调制度传递函数,计算航天遥感器在测试方向上的在轨MTF值。与现有技术相比,本发明的有益效果如下:本方法合理、实施简易,能够对航天光学遥感器在轨MTF测试精度有明显的提高效果,应用前景广泛。
搜索关键词: 航天 光学 遥感 mtf 测量方法
【主权项】:
1.一种航天光学遥感器在轨MTF测量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,在测试方向上设置两组相位差为m的周期靶标;步骤2,根据光学成像线性系统,建立方波信号经过光学成像系统后输出信号与在轨MTF的理论关系,初始相位为零时:其中:gwave表示输入方波信号经过光学系统后的输出,其中x表示光学遥感器对输入方波信号的等效采样初位置;代式MTF(*)表示空间角频率为*时,成像系统对应的MTF函数值;ω=2πf;f表示输入方波信号的频率;b表示输入方波信号的均值;a表示输入方波信号的幅度;步骤3,根据传感器对两组周期靶标的采样结果,代入步骤2的公式中,整理得:输出信号的均值为其中:m表示地面两组靶标铺设设置的位置差;表示光学遥感器对输入周期性靶标的等效采样初始相位;x1、x2、x3分别表示光学遥感器对输入周期性靶标的等效采样初位置,g1、g2、g3分别表示在x1、x2、x3三个采样位置上,光学遥感器对周期性靶标的相应采样输出值;(x1,g1)为探测器对经过光学传感器后输出波形的第一等效采样位置;(x2,g2)为探测器对经过光学传感器后输出波形的第二等效采样位置,第二等效采样位置与第一等效采样位置的相位差等于ωm;(x3,g3)是探测器对经过光学传感器后输出波形的第三等效采样位置,第三等效采样位置与第一等效采样位置相位错开π;m≠π/ω或m≠π/ω的整数倍,即存在相位差异时,步骤3中方程组中两式是不相关的,能够计算出A和步骤4,获得步骤1和步骤3中输出信号的拟合结果,计算拟合结果的输出调制度,结合周期靶标的输入调制度计算传感器的调制度传递函数,计算航天遥感器在测试方向上的在轨MTF值:
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