[发明专利]一种非同步辐射微束X射线荧光CT成像系统及方法在审
| 申请号： | 201610181077.2 | 申请日： | 2016-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN105842267A | 公开（公告）日： | 2016-08-10 |
| 发明（设计）人： | 蒋上海;冯鹏;魏彪;何鹏;陈绵毅;邓露珍 | 申请（专利权）人： | 重庆大学 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 重庆华科专利事务所 50123 | 代理人： | 康海燕 |
| 地址： | 400030 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明提出一种X射线源荧光CT成像系统，包括X射线源、多毛细管聚焦透镜、两个X射线强度探测器、样品控制台、荧光探测器以及数据处理系统。X射线管源发出的X射线光经过多毛细管聚焦透镜聚焦成微束平行光，照射到被检测样品，通过样品控制台控制被检测样品平移和转动，X射线光与被检测样品中的物质相互作用而产生荧光，利用荧光探测器对X射线荧光进行探测，数据处理系统将荧光探测器测得的X射线荧光光谱经分析处理得到X射线荧光CT的投影数据，将X射线强度探测器记录入射、出射X射线的强度进行计算得到透射CT投影数据，再通过透射CT投影数据以及X射线荧光CT投影数据对所述样品中元素分布和含量进行重建。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 同步 辐射 射线 荧光 ct 成像 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种基于毛细管聚焦、非同步辐射X射线源荧光CT成像系统，包括X射线源（1）、多毛细管聚焦透镜（2）、两个X射线强度探测器（5）、样品控制台（6）、荧光探测器（7）以及数据处理系统；其特征在于：在X射线源（1）发出的X射线光路上设有多毛细管聚焦透镜（2）和两个X射线强度探测器（5），两个X射线强度探测器之间为样品控制台（6），样品控制台上放置样品，并X射线源发出的X射线光经过多毛细管聚焦透镜聚焦成微束平行光，照射到被检测样品，通过样品控制台控制被检测样品平移和转动，X射线光与被检测样品中的物质相互作用而产生荧光；荧光探测器（7）设置在被检测样品下方，垂直于入射X射线方向，利用荧光探测器对所述X射线荧光进行探测；荧光探测器和X射线强度探测器与数据处理系统信号连接，数据处理系统将荧光探测器测得的X射线荧光光谱经分析处理得到X射线荧光CT的投影数据，将X射线强度探测器记录的入射、出射X射线的强度进行计算得到透射CT投影数据，再通过透射CT投影数据以及X射线荧光CT投影数据对所述样品中元素分布和含量进行重建。
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