[发明专利]基于线性外推的微磁探头励磁反馈控制方法有效
申请号: | 201610162336.7 | 申请日: | 2016-03-21 |
公开(公告)号: | CN105842635B | 公开(公告)日: | 2018-10-12 |
发明(设计)人: | 何存富;张秀;刘秀成;王磊;吴斌 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | G01R33/00 | 分类号: | G01R33/00;G01R33/14 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人: | 沈波 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 基于线性外推的微磁探头励磁反馈控制方法,实现该方法的内容分为三部分:第一部分是励磁磁路;第二部分是磁场测量模块;第三部分是反馈控制模块。在U型励磁磁路内侧的霍尔元件线阵,采用三个相同型号的霍尔元件Hall1、Hall2、Hall3沿垂直于被测材料或结构表面方向上布置,以测量三个高度位置的切向磁场强度,分别记为H1、H2、H3。在U型励磁磁路内侧放置磁场调整结构后,切向磁场强度梯度降低且线性变化范围扩大,从ZL提高到了ZH。采用由数据采集卡、任意信号激励板卡和控制软件组成的反馈控制模块,通过迭代反馈,使磁感应强度B和表面切向磁场强度H两路信号满足控制变量所设定的要求,提升开环磁路测试系统对饱和磁滞回线的精确测量。 | ||
搜索关键词: | 基于 线性 探头 反馈 控制 方法 | ||
【主权项】:
1.基于线性外推的微磁探头励磁反馈控制方法,其特征在于:实现该方法的装置分为三部分:第一部分是励磁磁路,包括激励线圈(1)、磁场调整结构(2)、U型轭铁(3),激励线圈(1)缠绕在U型轭铁(3)上,磁场调整结构(2)设置在U型轭铁(3)的中间,激励线圈(1)、磁场调整结构(2)、U型轭铁(3)与被测材料或结构(5)形成连通磁路;第二部分是磁场测量模块,包括霍尔元件线阵(4)和感应线圈(6);第三部分是反馈控制模块(7);在U型励磁磁路内侧的霍尔元件线阵(4),采用三个相同型号的霍尔元件Hall1、Hall2、Hall3沿垂直于被测材料或结构(5)表面方向上布置,以测量三个高度位置的切向磁场强度,分别记为H1、H2、H3;在霍尔元件线阵(4)所处范围内,切向磁场强度Hx沿垂直距离Z方向近似线性分布,利用三个霍尔元件测量得到的切向磁场强度Hx及它们的位置坐标Z,拟合得到切向磁场强度与垂直高度坐标间的直线方程Hx=f(Z),其中Z的取值范围为[0,ZL]或[0,ZH],利用线性外推的方法计算出材料或结构(5)表面即Z=0准确的切向磁场强度Hx;在U型励磁磁路内侧放置磁场调整结构(2)后,切向磁场强度梯度降低且线性变化范围扩大,从ZL提高到了ZH;绕于被测材料或结构(5)上的感应线圈(6)的输出电压经积分换算后,得到磁感应强度B,为实现饱和磁滞回线的精确测试,以磁感应强度最大值Bmax及表面切向磁场强度峰值差δHmax为控制变量,采用由数据采集卡、任意信号激励板卡和基于LabVIEW平台的控制软件组成的反馈控制模块(7),通过迭代反馈,使磁感应强度B和表面切向磁场强度H两路信号满足控制变量所设定的要求,提升开环磁路测试系统对饱和磁滞回线的精确测量;反馈控制模块(7)的反馈控制主要分两个步骤进行,第一步,调整激励电压V激励(t)来控制磁感应强度幅值Bmax达到要求值,具体迭代公式如下所示:
式中i—为迭代次数;
—第i阶迭代时,被控制的磁感应强度B的要求最大幅值与真实幅值之间的差值,其表达式为![]()
为要求的最大幅值,
为第i次迭代时真实的幅值;kBmax—修正系数,描述激励电压幅值相对于被控制的磁感应强度幅值的变化率,表达式为kBmax=δVmax/δBmax;
—第i次迭代时激励电压的最大幅值;
—第i次迭代时的偏置电压;循环终止条件是第i次迭代的
值满足
其中m是根据具体要求人为设定的常数,为0~10%,视具体误差而定;第二步,调节对称性,切向磁场正负最大幅值的绝对值之差的一半|δHmax/2|是判断参数,其值若不为零,进行迭代调节直到第i次满足使
其中n是根据具体要求人为设定的常数,为0~10%;满足要求后,反馈控制调节结束。
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