[发明专利]分光测定装置、图像形成装置、以及分光测定方法有效

专利信息
申请号: 201610162093.7 申请日: 2016-03-21
公开(公告)号: CN105987752B 公开(公告)日: 2019-08-27
发明(设计)人: 金井政史;锹田直树 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G01J3/26 分类号: G01J3/26;G01J3/50
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 田喜庆;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供能够抑制由于外部光光量而导致的测定精度的降低、且能够实施迅速的分光测定的分光测定装置、图像形成装置以及分光测定方法。内置有分光测定装置的打印机具备:分光器(17),包括对介质(A)射出照明光的光源、和对来自介质的入射光进行分光的波长可变干涉滤波器;外部光传感器(18),检测射入介质A的外部光的光量;以及CPU(154),作为以使照明光与外部光的光量比为第一值的方式来控制从光源射出的照明光的光量的光量控制单元而发挥作用。
搜索关键词: 分光 测定 装置 图像 形成 以及 方法
【主权项】:
1.一种分光测定装置,其特征在于,具备:分光器,包括向测定对象射出照明光的光源、和对来自所述测定对象的入射光进行分光的分光元件;外部光检测部,检测外部光的光量;光量控制部,以使所述外部光与所述照明光的光量比为第一值的方式来控制所述照明光的光量;以及反射率算出部,所述反射率算出部利用以校正基准物作为所述测定对象而实施了使用所述分光器的分光测定时的相对于测定波长的第一测定值Eλ(0)、以测定物作为所述测定对象而实施了使用所述分光器的分光测定时的相对于测定波长的第二测定值Eλ(t)、基于所述校正基准物的分光测定时的所述照明光与所述外部光中一方的光量的第一光量值X(0)、和基于所述测定物的分光测定时的所述照明光与所述外部光中所述一方的光量的第二光量值X(t),通过下面的式子来计算所述测定物的反射率Rλ(t),Rλ(t)=X(0)Eλ(t)/X(t)Eλ(0)。
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