[发明专利]一种芯片调试装置、调试方法及SOC芯片系统

摘要

本发明公开了一种芯片调试装置、调试方法及SOC芯片系统，该芯片调试装置通过转换模块将输入的调试命令数据进行串并转换；通过解析模块将串并转换后的调试命令数据解析成AMBA总线命令，且获取芯片执行AMBA总线命令的执行结果数据，即可以根据AMBA总线命令去访问芯片内部的功能模块，对芯片内部的功能模块进行读取和写入的操作，且将操作结果返给转换模块，转换模块将操作结果并串转换后输出，即完成了芯片的调试。相对于现有技术本发明实施例提供的芯片调试装置调试芯片过程中不需要CPU的参与，不会占用CPU资源，且基于AMBA总线命令调试芯片，因此可以调试SOC芯片内部的功能模块，提高了芯片调试的健全性。

主权项

一种芯片调试装置，用于调试SOC芯片，其特征在于，所述芯片调试装置包括：转换模块和解析模块；其中，所述转换模块用于将所述SOC芯片接收的外部调试命令数据进行串并转换后输出到所述解析模块，且将所述解析模块返回的数据进行并串转换后输出；所述解析模块用于将所述转换模块串并转换后的调试命令数据解析成AMBA总线命令，且获取所述SOC芯片执行AMBA总线命令的执行结果数据并返回给所述转换模块。