[发明专利]一种用于微区物相鉴定的X射线粉晶衍射方法

摘要

本发明属于物相鉴定技术领域，具体涉及一种用于微区物相鉴定的X射线粉晶衍射方法。本发明包括如下步骤：步骤1、样品制备与确定待测区域；步骤2、标记衍射中心；步骤3、安装计数器；步骤4、定位靶区的XY轴方向；步骤5、定位靶区的Z方向；步骤6、分析条件设定；步骤7、物相分析。本发明能够准确定位测试区域，获得300μm区域内多晶矿物的结构数据，从而进行物相鉴定；能够有效解决常规粉晶衍射方法对样品需求量大的关键技术。

主权项

1.一种用于微区物相鉴定的X射线粉晶衍射方法，其特征在于：包括如下步骤：/n步骤(1)、样品制备与确定待测区域：/n将天然矿物样品磨制成光薄片或光片，在显微镜下用有色笔圈出待测区域，与周围围岩区分开；/n步骤(2)、标记衍射中心：/n将荧光板放置在标准样品台上，入射光路调至60°，打开X射线发生器，此时荧光板上受到X射线激发的位置显现的亮斑即为光路衍射中心；打开CCD控制软件，电脑屏幕上出现被激发的亮斑和CCD镜头自带的十字丝；放大CCD倍数至在屏幕上清楚看到亮斑为椭圆形；调整CCD控制旋钮，使十字丝中心与亮斑圆心重合；打开定位器上的激光发射器，调整激光发射器使红色的激光点圆心与亮斑圆心和十字丝中心重合；/n步骤(3)、安装计数器：/n安装带有测量杆的、量程为0-13mm的数显计数器至样品台上方，用来测量Z轴方向移动距离，将测量杆触头接触样品台平面并压缩触头至计数器显示6mm；/n步骤(4)、定位靶区的XY轴方向：/n将样品放置在可以X、Y、Z三个方向移动的多功能样品台上，使CCD可观察到待测区域，此时CCD拍摄到的画面为样品XY轴平面；通过衍射仪的控制系统移动样品台的X、Y轴使CCD十字丝中心与步骤1中的待测区域重合，即完成样品X、Y方向定位，此时记十字丝中心为原点O点；/n步骤(5)、定位靶区的Z方向：/n下降样品台至激光点圆滑无变形时停止，此时手动将计数器归零，激光点中心记为A点，在屏幕上测量AO段的距离d