[发明专利]一种用于同步辐射X射线衍射测试的联动系统有效
申请号: | 201610118890.5 | 申请日: | 2016-03-02 |
公开(公告)号: | CN105758881B | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
发明(设计)人: | 柳义;周平 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海应用物理研究所 |
主分类号: | G01N23/207 | 分类号: | G01N23/207;G01N23/20008 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 邓琪;杨希 |
地址: | 201800 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于同步辐射X射线衍射测试的联动系统,其包括:一用于供样品安装于其上的样品台;一用于采集由同步辐射X射线照射在所述样品上所产生的X射线衍射信号的探测器;一与所述探测器连接的从控制器;以及一连接在所述样品台与所述从控制器之间的主控制器。本发明通过主控制器一方面可以调节所述样品台对样品的拉伸长度,另一方面又可根据样品台的实时拉伸长度向从控制器输出相应的控制指令,从而实现样品台与探测器之间的联动,即,在样品台的连续拉伸过程中,可按照设置的一系列不同的采集长度点自动启动探测器采集X射线衍射信号,进而实现了在样品被快速拉伸条件下,自动、快速、准确地采集X射线衍射信号的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 同步 辐射 射线 衍射 测试 联动 系统 | ||
【主权项】:
1.一种用于同步辐射X射线衍射测试的联动系统,其特征在于,所述系统包括:一用于供样品安装于其上的样品台;一用于采集由同步辐射X射线照射在所述样品上所产生的X射线衍射信号的探测器;一与所述探测器连接的从控制器;以及一连接在所述样品台与所述从控制器之间的主控制器,其一方面控制所述样品台根据预设的目标拉伸长度连续拉伸所述样品,其另一方面控制所述从控制器在所述样品台的实时拉伸长度分别达到预设的多个采集长度点时驱动所述探测器采集所述X射线衍射信号;其中,所述主控制器包括:一用于提供控制参数的参数设置模块,所述控制参数包括:5‑50mm/分的拉伸速率、所述目标拉伸长度、所述多个采集长度点以及采集时间;一与所述样品台连接的长度调节模块;以及一连接在所述参数设置模块与所述长度调节模块之间、并与所述从控制器连接的控制模块,其一方面控制所述样品台按所述拉伸速率连续拉伸所述样品直至达到所述目标拉伸长度,其另一方面控制所述从控制器在所述样品台的实时拉伸长度分别达到所述多个采集长度点时驱动所述探测器在所述采集时间内连续准确地采集所述X射线衍射信号。
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