[发明专利]等离子体离子源以及带电粒子束装置有效
申请号: | 201610078273.7 | 申请日: | 2016-02-04 |
公开(公告)号: | CN105898976B | 公开(公告)日: | 2020-02-18 |
发明(设计)人: | 大庭弘;杉山安彦;冈部卫 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | H05H1/46 | 分类号: | H05H1/46 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 秦琳;陈岚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及等离子体离子源以及带电粒子束装置。防止为了确保期望的绝缘性而使等离子体离子源整体的大小増大。实施方式的等离子体离子源(14a)具备气体导入室(33)、绝缘构件(38)、等离子体生成室(34)、线圈(39)以及末端电极(36)。气体导入室(33)导入原料气体。绝缘构件(38)被设置在气体导入室(33)的内部。等离子体生成室(34)连接于气体导入室(33)。线圈(39)沿着等离子体生成室(34)的外周卷绕,被施加高频功率。设置有多个贯通孔(36a)的末端电极(36)被配置在气体导入室(33)和等离子体生成室(34)的边界。贯通孔(36a)的大小被形成得比等离子体壳层长度小。 | ||
搜索关键词: | 等离子体 离子源 以及 带电 粒子束 装置 | ||
【主权项】:
一种等离子体离子源,其特征在于,具备:气体导入室,导入原料气体;绝缘构件,设置在所述气体导入室的内部;等离子体生成室,与所述气体导入室连接;线圈,沿着所述等离子体生成室的外周卷绕,被施加高频功率;以及电极,配置在所述气体导入室和所述等离子体生成室的边界,设置有多个贯通孔,所述贯通孔的大小被形成得比等离子体壳层长度小。
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