[发明专利]光学测量系统和气体检测方法有效

专利信息
申请号: 201610075328.9 申请日: 2016-02-03
公开(公告)号: CN105842192B 公开(公告)日: 2019-12-17
发明(设计)人: A.维特曼;M-O.朱费里;U.伯格利;K.哈斯勒 申请(专利权)人: 阿克塞特里斯股份公司
主分类号: G01N21/39 分类号: G01N21/39
代理公司: 72001 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王洪斌;王传道
地址: 瑞士凯*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 发明涉及光学测量系统和气体检测方法。该光学测量系统包括布置在至少一个外壳中的光发射体(4)和至少一个光检测器(8),其中,光发射体(4)以调制跨度Δλ、以平均波长λ
搜索关键词: 光学 测量 系统 气体 检测 方法
【主权项】:
1.一种用于气体检测的光学测量系统(1),该光学测量系统包括:/n光发射体(4);/n至少一个光检测器(8),其形成布置在至少一个外壳(2、6)中的光学部件(20);/n光学外壳窗口(3、7),其在外壳(2、6)处提供并形成光机械部件(15);和/或/n其它光机械部件(15),/n其中,所述光机械部件(15)包括光学有效边界面,/n其中,所述光发射体(4)以调制跨度Δλ、以平均波长λ
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