[发明专利]光学测量系统和气体检测方法有效
申请号: | 201610075328.9 | 申请日: | 2016-02-03 |
公开(公告)号: | CN105842192B | 公开(公告)日: | 2019-12-17 |
发明(设计)人: | A.维特曼;M-O.朱费里;U.伯格利;K.哈斯勒 | 申请(专利权)人: | 阿克塞特里斯股份公司 |
主分类号: | G01N21/39 | 分类号: | G01N21/39 |
代理公司: | 72001 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王洪斌;王传道 |
地址: | 瑞士凯*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | 本发明涉及光学测量系统和气体检测方法。该光学测量系统包括布置在至少一个外壳中的光发射体(4)和至少一个光检测器(8),其中,光发射体(4)以调制跨度Δλ、以平均波长λ | ||
搜索关键词: | 光学 测量 系统 气体 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于气体检测的光学测量系统(1),该光学测量系统包括:/n光发射体(4);/n至少一个光检测器(8),其形成布置在至少一个外壳(2、6)中的光学部件(20);/n光学外壳窗口(3、7),其在外壳(2、6)处提供并形成光机械部件(15);和/或/n其它光机械部件(15),/n其中,所述光机械部件(15)包括光学有效边界面,/n其中,所述光发射体(4)以调制跨度Δλ、以平均波长λ
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