[发明专利]数据采集芯片的测试系统、装置及其控制方法

摘要

本发明公开了一种数据采集芯片的测试装置及其控制方法，该装置包括：接收数据采集芯片采集的多帧采样数据的数据采集模块；存储模块；计算多个数据采样点的噪声，以得到噪声测试结果的处理模块；将所述噪声测试结果上传的数据收发模块；控制模块。本发明实施例的测试装置，通过计算多个数据采样点的噪声，从而只需上传噪声测试结果，提高了芯片测试的效率，降低了芯片测试的成本，更好地保证测试的可靠性。本发明还公开了一种数据采集芯片的测试系统。

主权项

一种数据采集芯片的测试装置，其特征在于，所述数据采集芯片包括多个数据采样点，所述测试装置包括：数据采集模块，所述数据采集模块与数据采集芯片相连，接收所述数据采集芯片采集的多帧采样数据；存储模块，所述存储模块用于存储所述多帧采样数据；处理模块，所述处理模块用于根据所述多帧采样数据计算所述多个数据采样点的噪声，以得到噪声测试结果；数据收发模块，所述数据收发模块用于将所述噪声测试结果上传至上位机；以及控制模块，所述控制模块用于对所述数据采集模块、所述存储模块、所述处理模块和所述数据收发模块进行控制。