[发明专利]诊断操作方法、诊断方法以及半导体器件在审

专利信息
申请号: 201610067351.3 申请日: 2016-01-29
公开(公告)号: CN106021011A 公开(公告)日: 2016-10-12
发明(设计)人: 山手章弘;多木良孝 申请(专利权)人: 瑞萨电子株式会社
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人: 温旭;郝传鑫
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在带有ECC的存储器中,在不使用地址信息产生冗余位并且不重写存储器的情形下改善存储器的地址电路的故障检测率。所述存储器将彼此不同的地址的数据和添加到所述数据的冗余位保存在共用同一选择信号配线(例如,字线或列线)的多个存储单元中并且输出对应指定地址的读出数据。ECC解码器对读出数据执行错误检测。当通过ECC解码器检测到错误时,通过对由与选择所述检测到错误的读出数据的选择信号配线相同的选择信号配线选择的且与读出数据的地址不同的一个或多个地址进行存取以及评价对所述读出数据的错误检测的结果来执行所述存储器的故障诊断。
搜索关键词: 诊断 操作方法 方法 以及 半导体器件
【主权项】:
一种诊断操作方法,所述诊断操作方法由能够对与ECC解码器连接的存储器进行存取的处理器执行并且诊断所述存储器的故障,其中,所述存储器将彼此不同的地址的数据和添加到所述数据的冗余位保存到共用同一选择信号配线的多个存储单元中并且将对应指定地址的数据和添加到所述对应指定地址的数据的冗余位作为读出数据输出,其中,所述ECC解码器对从所述存储器读出的读出数据执行错误检测,以及其中,所述诊断操作方法包括:相关地址读出步骤,所述读出步骤为:当通过所述ECC解码器检测到错误时,从由与选择所述检测到错误的读出数据的选择信号配线相同的选择信号配线选择的其他存储单元中读出另外的读出数据,以及评价步骤,所述评价步骤为:对由所述ECC解码器对所述相关地址读出步骤中读出的另外的读出数据执行错误检测的结果进行评价。
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