[发明专利]一种自适应黑电平校正方法在审
| 申请号： | 201610066946.7 | 申请日： | 2016-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN105578082A | 公开（公告）日： | 2016-05-11 |
| 发明（设计）人： | 高建民 | 申请（专利权）人： | 深圳市高巨创新科技开发有限公司 |
| 主分类号： | H04N5/361 | 分类号： | H04N5/361;H04N5/374 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 张明 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种自适应黑电平校正方法，所述方法为：S1在不同的曝光时间和增益下，获取全黑环境下的原始图像，计算获取的全黑环境下的原始图像中各个颜色通道的黑电平校准值，并存储；S2获取当前图像，以及当前曝光时间和当前增益；S3根据存储的在不同的曝光时间和增益下的黑电平校准值中，用线性插值法计算当前曝光时间和当前增益对应的各个颜色通道的当前黑电平校准值；S4用所述各个颜色通道的当前黑电平校准值，对所述当前图像进行黑电平校正。所述方法能够根据不同的曝光时间、增益，自适应校正各个像素点的黑电平，抗干扰能力强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自适应 电平 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种自适应黑电平校正方法，其特征在于，所述方法为：S1在不同的曝光时间和增益下，获取全黑环境下的原始图像，计算获取的全黑环境下的原始图像中各个颜色通道的黑电平校准值，并存储；S2获取当前图像，以及当前曝光时间和当前增益；S3根据存储的在不同的曝光时间和增益下的黑电平校准值中，用线性插值法计算当前曝光时间和当前增益对应的各个颜色通道的当前黑电平校准值；S4用所述各个颜色通道的当前黑电平校准值，对所述当前图像进行黑电平校正。
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