[发明专利]一种自适应黑电平校正方法在审
申请号: | 201610066946.7 | 申请日: | 2016-01-29 |
公开(公告)号: | CN105578082A | 公开(公告)日: | 2016-05-11 |
发明(设计)人: | 高建民 | 申请(专利权)人: | 深圳市高巨创新科技开发有限公司 |
主分类号: | H04N5/361 | 分类号: | H04N5/361;H04N5/374 |
代理公司: | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人: | 张明 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙岗*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 自适应 电平 校正 方法 | ||
1.一种自适应黑电平校正方法,其特征在于,所述方法为:
S1在不同的曝光时间和增益下,获取全黑环境下的原始图像,计算获取的全黑环境下的原始图像中各个颜色通道的黑电平校准值,并存储;
S2获取当前图像,以及当前曝光时间和当前增益;
S3根据存储的在不同的曝光时间和增益下的黑电平校准值中,用线性插值法计算当前曝光时间和当前增益对应的各个颜色通道的当前黑电平校准值;
S4用所述各个颜色通道的当前黑电平校准值,对所述当前图像进行黑电平校正;
步骤S1中,在不同的曝光时间和增益下,获取全黑环境下的原始图像,计算获取的全黑环境下的原始图像中各个颜色通道的黑电平校准值,具体为:
S11预设最小曝光时间、最大曝光时间、最小增益、最大增益、曝光时间增加阈值、增益增加阈值;
S12将曝光时间调至最小曝光时间,将增益调至最小增益,并存储;
S13获取全黑环境下的原始图像;
S14计算获取的全黑环境下的原始图像的各个颜色通道的黑电平校准值,并存储;
S15判断步骤S13和S14中的曝光时间是否为最大曝光时间:
若否,则将曝光时间调大一个曝光时间增加阈值,执行步骤S13;
若是,则执行步骤S16;
S16判断步骤S13和S14中的增益是否为最大增益:
若否,则将增益调大一个增益增加阈值,执行步骤S13;
若是,则结束;
所述原始图像和当前图像的数据格式为bayer pattern;
步骤S4中,用所述各个颜色通道的当前黑电平校准值,对所述当前图像进行黑电平校正,具体为:
S41获取当前图像的每个像素点的像素值;
S42将第一个像素点作为当前像素点;
S43判断当前像素点的像素值是否小于与之相同颜色通道的当前黑电平校准值:
若是,则将当前像素点的像素值赋值为0;
若否,则将当前像素点的像素值赋值为(当前像素点的像素值-与之相同颜色通道的当前黑电平校准值);
S44判断当前像素点是否为最后一个像素点:
若否,则将下一个像素点作为当前像素点,执行步骤S43;
若是,则结束。
2.根据权利要求1所述的自适应黑电平校正方法,其特征在于,步骤S14中,计算获取的全黑环境下的原始图像的各个颜色通道的黑电平校准值,具体为:
S141以像素点为单位,将获取的全黑环境下的原始图像划分为n个的L*D窗口;
S142选取第一个L*D窗口作为当前的L*D窗口;
S143采用中值滤波算法分别计算出当前的L*D窗口内的各个颜色通道的黑电平中值;
S144判断当前的L*D窗口是否为第n个的L*D窗口:
若否,则将下一个L*D窗口作为当前的L*D窗口,执行步骤S143;
若是,则执行步骤S145;
S145用平均值法分别计算n个的L*D窗口中各个颜色通道的黑电平中值平均值;
S146将所述各个颜色通道的黑电平中值平均值分别作为各个颜色通道的黑电平校准值。
3.根据权利要求1所述的自适应黑电平校正方法,其特征在于,最小曝光时间为1/8000S,最大曝光时间为180S,最小增益为1X,最大增益为128X。
4.根据权利要求3所述的自适应黑电平校正方法,其特征在于,曝光时间增加阈值为0.5~2倍的当前曝光时间,增益增加阈值为0.5~2倍的当前增益。
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