[发明专利]红外热像检测缺陷的方法在审

专利信息
申请号: 201610063930.0 申请日: 2016-01-29
公开(公告)号: CN105717163A 公开(公告)日: 2016-06-29
发明(设计)人: 刘卫平;张冬梅;刘奎;黄姿禹;周晖;于光;肖鹏;张继敏 申请(专利权)人: 中国商用飞机有限责任公司;上海飞机制造有限公司
主分类号: G01N25/72 分类号: G01N25/72
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 苏娟;徐年康
地址: 200126 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种红外热像检测缺陷的方法,包括以下步骤:对被测试件进行热激励,并同时使用红外热像仪获取激励前、中、后一段时间内的被测试件的表面的时间序列检测热图像;对升温阶段和降温阶段进行温度拟合;对平均温度求导取最大值,以确定检测中的激励开始时间点和结束时间点,为分析缺陷与时间的关系建立时间基准;对平均温度求二阶导数并取极值,以确定温差出现的精确时间;在激励结束后,对缺陷面积大小进行检测,将半最大对比度宽度法中的阈值系数确定在0.5至0.7之间;按照时间顺序,根据图像相同灰度值构建等值面,并采用投影方法获取缺陷三维重建结果。本发明能够实现高精度的缺陷投影重建。
搜索关键词: 红外 检测 缺陷 方法
【主权项】:
一种红外热像检测缺陷的方法,包括以下步骤:步骤1,对被测试件进行热激励,并同时使用红外热像仪获取激励前、激励中及激励后一段时间内的被测试件的表面的时间序列检测热图像;步骤2,对获得的所述时间序列检测热图像的升温阶段和降温阶段进行温度拟合;步骤3,对所述时间序列检测热图像的平均温度求导取最大值,以确定检测中的激励开始时间点和结束时间点,为分析缺陷与时间的关系建立时间基准;步骤4,对所述时间序列检测热图像的平均温度求二阶导数并取极值,以确定温差出现的精确时间;步骤5,在激励结束后,对缺陷面积大小进行检测,将半最大对比度宽度法中的阈值系数确定在0.5至0.7之间;步骤6,按照时间顺序,根据图像相同灰度值构建等值面,并采用投影方法获取缺陷三维重建结果。
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