[发明专利]测试方法和装置在审
| 申请号： | 201610058793.1 | 申请日： | 2016-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN105741883A | 公开（公告）日： | 2016-07-06 |
| 发明（设计）人： | 林寅;吴大畏;李晓强 | 申请（专利权）人： | 深圳市硅格半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国;苏磊 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区科技南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试方法，所述测试方法包括：将待测试的闪存映射转换层程序移植到主机；在主机将测试数据写入所述待测试的闪存映射转换层程序计算得到的物理地址；读取写入的所述测试数据作为读出数据；对比所述测试数据和所述读出数据，根据对比结果，判断所述闪存映射转换程序是否正确。本发明还公开一种测试装置。本发明将闪存映射转换层FTL算法程序在主机进行测试，在主机进行测试数据的传输，通过主机的高性能处理器进行FTL算法程序的运算，提高运算效率，省去真实测试环境的物理测试时间，优化了测试通路，测试效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：将待测试的闪存映射转换层程序移植到主机；在主机将测试数据写入所述待测试的闪存映射转换层程序计算得到的物理地址对应的存储区域；读取写入的所述测试数据作为读出数据；对比所述测试数据和所述读出数据，根据对比结果，判断所述闪存映射转换层程序是否正确。
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