[发明专利]测试方法和测试设备有效
申请号: | 201610017986.2 | 申请日: | 2016-01-12 |
公开(公告)号: | CN105577300B | 公开(公告)日: | 2018-06-26 |
发明(设计)人: | 李贺鑫;石竑松;陈佳哲 | 申请(专利权)人: | 中国信息安全测评中心 |
主分类号: | H04B17/309 | 分类号: | H04B17/309;H04B17/336 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 吕雁葭 |
地址: | 100085 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种测试方法,包括:根据通信协议向被测设备发送命令;以及采集被测设备在响应于所述命令而执行的操作期间的侧信道信号,其中:所述通信协议被配置成减小对所述侧信道信号造成的干扰。本发明还提供了一种测试设备。 | ||
搜索关键词: | 被测设备 测试设备 通信协议 信道信号 测试 操作期间 发送命令 减小 采集 响应 配置 | ||
【主权项】:
1.一种测试方法,包括:根据通信协议向被测设备发送命令;以及采集被测设备在响应于所述命令而执行的操作期间的侧信道信号,其中:所述通信协议的参数和/或流程被修改,以减小对所述侧信道信号造成的干扰。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国信息安全测评中心,未经中国信息安全测评中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610017986.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:减小线头间距的方法
- 下一篇:半导体器件中接触孔的制备方法