[发明专利]用于稀疏检测器的装置、方法和系统有效
申请号: | 201580084404.6 | 申请日: | 2015-12-31 |
公开(公告)号: | CN108289647B | 公开(公告)日: | 2022-10-25 |
发明(设计)人: | 李弘棣;安少辉;董筠;吕杨;胡凌志;包峻 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人: | 朱五云 |
地址: | 201807 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 提供了涉及一个或多个稀疏检测器的装置、系统和方法。稀疏检测器可包括响应于辐射而生成闪光的闪烁晶体阵列(601),以及响应于闪光而生成电信号的光电检测器阵列(702)。闪烁晶体(601)的一部分可以由替代物或间隙(602)间隔开。替代物或间隙(602)的分布可根据稀疏性规则。光电检测器阵列(702)的至少一部分可以耦合至闪烁晶体阵列(601)。提供了一种可包含一个或多个稀疏检测器的装置的成像系统(101)。该成像系统(101)可包括用于处理由包括该一个或多个稀疏检测器的装置或系统获取的成像数据的处理器(102)。该方法可包括预处理所获取的图像数据以及通过图像重构来产生图像。 | ||
搜索关键词: | 用于 稀疏 检测器 装置 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种装置,包括稀疏检测器,所述稀疏检测器包括:响应于辐射而生成闪光的闪烁晶体阵列,所述闪烁晶体的至少一部分根据至少一种稀疏性规则被间隔开;以及配置成响应于所述闪光而生成电信号的光电检测器元件阵列,其中所述光电检测器阵列的至少一部分耦合至所述闪烁晶体阵列。
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