[发明专利]用于稀疏检测器的装置、方法和系统有效
申请号: | 201580084404.6 | 申请日: | 2015-12-31 |
公开(公告)号: | CN108289647B | 公开(公告)日: | 2022-10-25 |
发明(设计)人: | 李弘棣;安少辉;董筠;吕杨;胡凌志;包峻 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人: | 朱五云 |
地址: | 201807 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 稀疏 检测器 装置 方法 系统 | ||
1.一种成像装置,包括稀疏检测器,所述稀疏检测器包括:
响应于辐射而生成闪光的闪烁晶体阵列,所述闪烁晶体的至少一部分根据至少一种稀疏性规则被间隔开;所述闪烁晶体阵列的至少一部分由一个或多个光透射材料块来间隔开;以及
配置成响应于所述闪光而生成电信号的光电检测器元件阵列,
其中,所述光电检测器阵列的至少一部分耦合至所述闪烁晶体阵列;所述闪烁晶体的相邻闪烁晶体的侧壁之间的空间填充以反射性材料;所述一个或多个光透射材料块中的一个光透射材料块的大小基本上等于所述闪烁晶体阵列中的一个闪烁晶体的大小;所述稀疏检测器用于生成成像数据,根据所述稀疏检测器的稀疏性规则来生成虚拟闪烁体单元,计算所述虚拟闪烁体单元的效率,以及计算响应线的效率。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述光透射材料块包括玻璃。
3.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置包括所述闪烁晶体阵列中的两个闪烁晶体之间的间隙。
4.如权利要求3所述的装置,其特征在于,所述间隙的大小基本上等于所述闪烁晶体阵列中的一个闪烁晶体的大小。
5.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述稀疏性规则包括从所述闪烁晶体阵列之中的每两个相邻闪烁晶体中移除最多一个闪烁晶体。
6.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述稀疏检测器的形状是弧形、环形或者多边形。
7.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置包括彼此平行的两个检测器模块,所述两个检测器模块中的至少一个检测器模块包括一个或多个所述稀疏检测器。
8.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置包括形成多边形的检测器模块,所述检测器模块中的至少一个检测器模块包括一个或多个所述稀疏检测器。
9.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置包括形成环形的稀疏检测器。
10.一种成像系统,包括:
一种如权利要求1所述的装置,所述装置包括多个稀疏检测器,其生成成像数据;以及
配置成基于所述成像数据来生成图像的处理器;所述处理器用于根据所述稀疏检测器的稀疏性规则来生成虚拟闪烁体单元;计算所述虚拟闪烁体单元的效率;以及计算响应线的效率;
其中,所述闪烁晶体的相邻闪烁晶体的侧壁之间的空间填充以反射性材料。
11.如权利要求10所述的成像系统,其特征在于,所述成像系统是计算机断层扫描(CT)系统、数字放射成像(DR)系统、正电子发射断层扫描(PET)、单光子发射计算机断层扫描(SPECT)系统、计算断层扫描-正电子发射断层扫描(CT-PET)系统、计算机断层扫描-磁共振成像(CT-MRI)系统、正电子发射断层扫描-磁共振成像(PET-MRI)系统或单光子发射计算机断层扫描-正电子发射断层扫描(SPECT-PET)系统。
12.一种成像方法,包括:
提供如权利要求1所述的装置;所述装置中的相邻闪烁晶体的侧壁之间的空间填充以反射性材料;
使用所述装置来获取成像数据;
基于经预处理的成像数据来重构图像;其中,所述预处理的过程包括:根据所述稀疏检测器的稀疏性规则来生成虚拟闪烁体单元;计算所述虚拟闪烁体单元的效率;以及计算响应线的效率。
13.如权利要求12所述的方法,其特征在于,所述光透射材料块包括玻璃。
14.如权利要求12所述的方法,其特征在于,所述装置包括所述闪烁晶体阵列中的两个闪烁晶体之间的间隙。
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