[发明专利]X射线成像的散射估计和/或校正有效
| 申请号： | 201580081248.8 | 申请日： | 2015-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN107710020B | 公开（公告）日： | 2020-03-27 |
| 发明（设计）人： | 马特斯·丹尼尔松;大卫·迈克尔·霍夫曼 | 申请（专利权）人： | 棱镜传感器公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24;A61B6/00;G01T1/29;G01T1/36 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 刘宇峰 |
| 地址： | 瑞典斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了在多级光子计数X射线探测器(102、103)中估计和/或补偿目标散射和/或内部散射的方法和装置，以及用于目标的X射线断层成像同时校正目标散射和/或内部散射的方法和装置。该X射线探测器具有安装在几何形的边缘上的至少两层探测器二极管，例如被设计用于：1)在目标散射具有缓慢变化的空间分布的假设下，基于在顶层和底层之间计数的差异来估计对所述至少两层的顶层中的计数的目标散射贡献；和/或2)基于通过将高衰光束截止置停留于探测器元件的顶部而选择性地遮蔽来自首次辐射的一些探测器元件来在底层中或在顶层和底层中估计具有在所述探测器内部的康普顿散射的光子的再吸收的计数，以及测量在那些探测器元件中的计数。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 成像 散射 估计 校正 | ||
【主权项】：
一种用于在光子计数X射线探测器中估计目标散射的方法，所述探测器具有安装在几何形的边缘上的至少两层探测器二极管或者在入射X射线方向上的至少两层二极管段，其特征在于，在目标散射具有缓慢变化的空间分布的假设下，基于在顶层和底层之间计数的差异来估计对所述至少两层的顶层中的计数的目标散射贡献。
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