[发明专利]对三维测量系统的校准进行更新有效
| 申请号： | 201580070356.5 | 申请日： | 2015-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN107110637B | 公开（公告）日： | 2019-11-01 |
| 发明（设计）人： | 周光宇;埃里克·P·路德;卡尔·E·豪根 | 申请（专利权）人： | 赛博光学公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 范心田 |
| 地址： | 美国明*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了一种对具有多个摄像机和至少一个投影仪的三维测量系统进行校准的方法。该方法包括：对每个摄像机(118、120、122、124)/投影仪(128)对执行完全校准(100)，其中该完全校准生成至少两个校正矩阵集合。随后对每个摄像机(118、120、122、124/投影仪(128)对执行更新校准(200)。该更新校准对少于所有校正矩阵集合的校正矩阵集合进行改变。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 测量 系统 校准 进行 更新 | ||
【主权项】：
1.一种对具有多个摄像机和至少一个投影仪的三维测量系统进行校准的方法，所述方法包括：对每个摄像机/投影仪对执行完全校准，所述完全校准包括在每个摄像机的视场中定位校准目标以及从每个摄像机获取所述校准目标的图像作为定位在不同高度范围处的校准目标，所述完全校准生成至少两个校正矩阵集合和参考数据集合；以及随后使用所述参考数据集合对每个摄像机/投影仪对执行更新校准，其中所述更新校准对少于所有校正矩阵集合的校正矩阵集合进行改变。
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