[发明专利]反应性近场天线测量在审
| 申请号： | 201580061062.6 | 申请日： | 2015-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN107110948A | 公开（公告）日： | 2017-08-29 |
| 发明（设计）人： | 鲁斯卡·巴顿;卡斯拉·帕扬德赫朱 | 申请（专利权）人： | EMSCAN公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京挚诚信奉知识产权代理有限公司11338 | 代理人： | 邢悦,王永辉 |
| 地址： | 加拿大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种校准或校正来自集成测量探针的扫描器板阵列的近场或远场数据的方法，该测量探针被电子切换以从被测天线(AUT)捕获近场数据并具有板输出，包括以下步骤将校准探针与其中一个测量探针耦接，测量通过测量探针和校准探针的功率，并通过消除校准探针的影响来隔离从测量探针到板输出的射频路径的影响，并且对于每个测量探针进行重复。还公开了一种用于校正对于AUT的散射效应和负载效应的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 反应 近场 天线 测量 | ||
【主权项】：
一种校准扫描器的方法，所述扫描器包括被电子切换以从AUT捕获近场数据的集成的测量探针的扫描器板阵列，并且具有板输出，所述方法包括以下步骤：(a)将校准探针与所述测量探针中的一个测量探针耦接；(b)测量通过所述测量探针和所述校准探针的功率，并通过消除所述校准探针的影响来隔离从所述测量探针到所述板输出的RF路径的影响；(c)对于每个测量探针重复步骤(a)和(b)；(d)创建针对阵列的校准文件，其包括针对每个测量探针RF路径的校正。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于EMSCAN公司，未经EMSCAN公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201580061062.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
