[发明专利]零覆盖光栅化剔除有效
| 申请号: | 201580058459.X | 申请日: | 2015-10-07 |
| 公开(公告)号: | CN107077758B | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
| 发明(设计)人: | T·G·阿凯奈-莫勒;J·N·哈塞尔格林;C·J·穆克伯格 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
| 主分类号: | G06T15/40 | 分类号: | G06T15/40;G06T11/40 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 黄嵩泉 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 根据一些实施例,零覆盖测试可以判定诸如三角形之类的图元是否依赖于样本行或样本列或样本线之间的通道。如果是,则可在零覆盖剔除测试中剔除所述图元。 | ||
| 搜索关键词: | 覆盖 光栅 剔除 | ||
【主权项】:
一种方法,包括:判定图元是否位于多个样本之间的通道中;以及如果是,则剔除所述图元。
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