[发明专利]零覆盖光栅化剔除

权利要求书

1.一种用于图形处理的方法，包括：

标识多个样本之间的通道，所述通道没有样本并且定义两条间隔的平行的样本线；

标识在任一方向上均不完全位于第一通道内的图元，所述图元包括第一顶点、第二顶点和第三顶点；

标识所述第一通道的第一样本线；

标识所述图元内部的线段，所述线段与所述第一样本线垂直并且与所述图元的所述第一通道外部的所述第一顶点相交；

标识所述线段与所述第一样本线相交的点；

判定在所述线段的相对两侧上的沿所述第一样本线的连续样本是否在所述图元的外部；

如果在所述线段的相对两侧上的沿所述第一样本线的连续样本在所述图元的外部，则剔除所述图元。

2.如权利要求1所述的方法，其中，所述第一通道沿样本行或样本列。

3.如权利要求1所述的方法，其中，所述第一通道沿对角线。

4.如权利要求1所述的方法，包括判定：所述第二顶点是否在所述第一通道内部，并且所述第一顶点是否在所述第一通道的第一侧上的第二通道内，并且所述第三顶点是否在所述第一通道的第二侧上。

5.如权利要求1所述的方法，其中，所述线段是通过所述第一顶点到所述图元内部的点的任意线。

6.如权利要求1所述的方法，包括：将所述第一顶点、所述第二顶点和所述第三顶点变换至经旋转的坐标系；针对所述经变换的顶点计算轴线对准的边界框；以及然后执行剔除测试。

7.如权利要求1所述的方法，包括：判定所述图元是否完全位于所述第一通道中，不覆盖所述第一通道的任一边界/边缘上的样本。

8.一种用于图形处理的装置，包括：

处理器，所述处理器用于执行以下步骤：

标识多个样本之间的通道，所述通道没有样本并且定义两条间隔的平行的样本线；

标识在任一方向上均不完全位于第一通道内的图元，所述图元包括第一顶点、第二顶点和第三顶点；

标识所述第一通道的第一样本线；

标识所述图元内部的线段，所述线段与所述第一样本线垂直并且与所述图元的所述第一通道外部的所述第一顶点相交；

标识所述线段与所述第一样本线相交的点；

判定在所述线段的相对两侧上的沿所述第一样本线的连续样本是否在所述图元的外部；

如果在所述线段的相对两侧上的沿所述第一样本线的连续样本在所述图元的外部，则剔除所述图元；以及

存储设备，所述存储设备耦合至所述处理器。

9.如权利要求8所述的装置，其中，所述第一通道沿样本行或样本列。

10.如权利要求8所述的装置，其中，所述第一通道沿对角线。

11.如权利要求8所述的装置，所述处理器用于判定：所述第二顶点是否在所述第一通道内部，并且所述第一顶点是否在所述第一通道的第一侧上的第二通道内，并且所述第三顶点是否在所述第一通道的第二侧上。

12.如权利要求8所述的装置，其中，所述线段是通过所述第一顶点到所述图元内部的点的任意线。

13.如权利要求8所述的装置，所述处理器用于：将所述第一顶点、所述第二顶点和所述第三顶点变换至经旋转的坐标系；针对所述经变换的顶点计算轴线对准的边界框；以及然后执行剔除测试。

14.如权利要求8所述的装置，所述处理器用于：判定所述图元是否完全位于所述第一通道中，不覆盖所述第一通道的任一边界/边缘上的样本。

15.一种或多种非瞬态计算机可读介质，存储有指令，所述指令被执行以执行如权利要求1-7中的任一项所述的方法。