[发明专利]位移传感器的检查装置及其检查方法在审
| 申请号： | 201580050436.4 | 申请日： | 2015-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN106716096A | 公开（公告）日： | 2017-05-24 |
| 发明（设计）人： | 山田亮太 | 申请（专利权）人： | KYB株式会社 |
| 主分类号： | G01L25/00 | 分类号： | G01L25/00;G01L3/10 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 位移传感器的检查装置(100)具备数列数据获取部(S1)，其对位移传感器(1)提供以固定的时间梯度连续变化的输入并获取输出值的数列数据；差分运算部(S2)，其求出数列数据中的该点处的值与从该点前进规定的评价间距的点处的值之间的差分，来运算差分后数列数据；移动平均运算部(S3、S4)，其求出以差分后数列数据中的该点为中心的、规定数据数量的移动平均，来运算移动平均后数列数据；以及判定部(S6)，其在移动平均后数列数据的输出值的振幅小于振幅用判定阈值的情况下，判定为位移传感器(1)正常。 | ||
| 搜索关键词： | 位移 传感器 检查 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种位移传感器的检查装置，检查位移传感器的输出特性中包含的周期变动，该位移传感器的检查装置具备：数列数据获取部，其对所述位移传感器提供以固定的时间梯度连续变化的输入并获取输出值的数列数据；差分运算部，其针对所述数列数据的各点，求出所述数列数据中的该点处的值与从该点前进规定评价间距的点处的值之间的差分，来运算差分后数列数据；移动平均运算部，其针对所述差分后数列数据的各点，求出以所述差分后数列数据中的该点为中心的、规定数据数量的移动平均，来运算移动平均后数列数据；以及判定部，其在所述移动平均后数列数据的输出值的振幅小于振幅用判定阈值的情况下，判定为所述位移传感器正常。
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