[发明专利]使用有机光电二极管的X射线系统和X射线检测器有效

专利信息
申请号: 201580049170.1 申请日: 2015-07-31
公开(公告)号: CN106605157B 公开(公告)日: 2019-11-05
发明(设计)人: J.J.刘;安光协;A.J.库图尔 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01T1/202 分类号: G01T1/202;H01L27/30;H01L51/42;H01L51/46;H01L51/52;H01L51/54
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 郑浩;刘春元
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 提出了一种有机x射线检测器。有机x射线检测器包含分层结构。分层结构包含设置在衬底上的薄膜晶体管(TFT)阵列、设置在TFT阵列上的有机光电二极管和设置在有机光电二极管上的闪烁体层。有机x射线检测器包含至少部分封装分层结构的封装盖。有机x射线检测器还包含设置成接近有机光电二极管和在入射在分层结构上的x射线辐射的路径中的水分吸气剂层和氧气吸气剂层中的至少一个。还提出了包含有机x射线检测器的X射线系统。
搜索关键词: 使用 有机 光电二极管 射线 系统 检测器
【主权项】:
1.一种x射线检测器,包括:分层结构,包括:设置在衬底上的薄膜晶体管(TFT)阵列,设置在所述TFT阵列上的有机光电二极管,以及设置在所述有机光电二极管上的闪烁体层;至少部分封装所述分层结构的封装盖;以及在所述封装盖内设置成接近所述有机光电二极管和在入射在所述分层结构上的x射线辐射的路径中的水分吸气剂层和氧气吸气剂层中的至少一个。
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