[发明专利]用于倾斜角度X射线辐射的X射线探测器设备有效

专利信息
申请号: 201580047375.6 申请日: 2015-12-01
公开(公告)号: CN106796302B 公开(公告)日: 2018-11-13
发明(设计)人: E·勒斯尔;T·克勒 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: G01T1/24 分类号: G01T1/24
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王英;刘炳胜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及用于以相对于X射线辐射的倾斜角度来探测所述X射线辐射的X射线探测器设备(10)、X射线成像系统(1)、X射线成像方法、和用于控制这样的设备或系统以执行这样的方法的计算机程序单元、以及存储有这样的计算机程序单元的计算机可读介质。所述X射线探测器设备(10)包括阴极表面(11)和阳极表面(12)。所述阴极表面(11)和所述阳极表面(12)被分离层(13)分开,以允许响应于在所述阴极表面(11)上操作期间入射的X射线辐射的、在所述阴极表面(11)与所述阳极表面之间(12)的电荷传输(T)。所述阳极表面(12)被分割为阳极像素(121)并且所述阴极表面(11)被分割为阴极像素(111)。所述阴极像素(111)中的至少一个在相对于所述阴极表面(11)倾斜的耦合方向(C)上被分配到所述阳极像素(121)中的至少一个。所述阴极像素(111)中的至少一个被配置为相对于邻近阴极像素处于电压偏置,并且所述阳极像素(121)中的至少一个被配置为相对于邻近阳极像素(121)处于电压偏置。所述电压偏置被配置为使电荷传输(T)汇聚于平行于所述耦合方向(C)的方向上。
搜索关键词: 用于 倾斜 角度 射线 辐射 探测器 设备
【主权项】:
1.一种用于以相对于X射线辐射的倾斜角度来探测所述X射线辐射的X射线探测器设备(10),包括:阴极表面(11),以及阳极表面(12),其中,所述阴极表面(11)和所述阳极表面(12)被分离层(13)分开,以允许响应于在所述阴极表面(11)上操作期间入射的X射线辐射的、在所述阴极表面(11)与所述阳极表面(12)之间的电荷传输(T),其中,所述阳极表面(12)被分割为阳极像素(121),其中,所述阴极表面(11)被分割为阴极像素(111),其中,所述阴极像素(111)中的至少一个被分配到所述阳极像素(121)中在相对于所述阴极表面(11)倾斜的耦合方向(C)上的至少一个,其中,所述阴极像素(111)中的所述至少一个被配置为相对于邻近阴极像素处于电压偏置,其中,所述阳极像素(121)中的所述至少一个被配置为相对于邻近阳极像素(121)处于电压偏置,其中,所述电压偏置被配置为使所述电荷传输(T)汇聚于平行于所述耦合方向(C)的方向上,并且其中,所述电压偏置取决于所述阴极表面(11)与所述耦合方向(C)之间的倾斜角度(α),并且其中,所述耦合方向(C)平行于在所述阴极表面(11)上操作期间入射的X射线辐射的射束的对称轴。
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