[发明专利]光测量装置有效

专利信息
申请号: 201580047024.5 申请日: 2015-03-05
公开(公告)号: CN106659484B 公开(公告)日: 2019-11-22
发明(设计)人: 石川亮宏;宇田川晴英 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: A61B10/00 分类号: A61B10/00;G01N21/01;G01N21/359
代理公司: 11277 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 刘新宇<国际申请>=PCT/JP2015
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 该光测量装置(100)具备:装置主体部(1),其包括送光口(11);送光探针部(2),其包括光纤(21),并用于向构成为相对于送光口(11)进行装卸的光纤(21)的另一端部(21b)传送光;以及遮光部(6),其设置于装置主体部(1),构成为在从送光口(11)卸下了送光探针部(2)的状态下遮挡从送光口(11)向外部照射的光。
搜索关键词: 测量 装置
【主权项】:
1.一种光测量装置,具备:/n装置主体部,其包括光源和射出用于向被检体照射的光所需的送光口;/n光传送部,其包括光纤且构成为相对于所述送光口进行装卸,用于向配置于所述被检体的送光点传送光;以及/n遮光部,其设置于所述装置主体部,构成为在从所述送光口卸下了所述光传送部的状态下遮挡从所述送光口向外部照射的光,/n其中,所述遮光部被设置为从所述装置主体部的外部覆盖所述送光口,以及/n所述光传送部构成为在所述遮光部与所述装置主体部之间相对于所述送光口进行装卸。/n
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